Pat
J-GLOBAL ID：200903011791368623

基板検査方法

Inventor：
田中 弘文

About 田中 弘文

, 
船岩 慶

About 船岩 慶


Applicant, Patent owner：
オーエヌ電子株式会社

About オーエヌ電子株式会社


Agent (3)： 伊藤 英彦 ,  森下 八郎 ,  吉田 博由
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003011578
Publication number (International publication number)：2004226127
Application date： Jan. 20, 2003
Publication date： Aug. 12, 2004
Summary：
【課題】1つの装置内で外観検査とX線透過検査を可能にし、設置スペースを狭くするとともに検査時間を短縮できる基板検査方法を提供する。【解決手段】外観検査部2で光を基準となるプリント基板に照射し、その反射光に基づいて光学基準画像を生成し、X線検査部3でX線を基準となるプリント基板に照射し、その透過像をX線基準画像として生成し、外観検査部2で光を検査対象となるプリント基板に照射し、その反射光に基づく画像と光学基準画像とを比較することにより、プリント基板における電子部品の接続部分の良否を判別し、X線検査部3で良否の判別されたプリント基板にX線を照射して透過したX線像を撮影したX線像とX線基準画像とを比較し、プリント基板における電子部品の接続部分の良否を判別する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
プリント基板に取付けられた電子部品の接続状態の外観検査を行う外観検査部と、前記プリント基板にX線を照射してX線透過検査を行うX線透過検査部とを備えた装置内で行う基板検査方法であって、 前記外観検査部で光を基準となるプリント基板に照射し、その反射光に基づいて光学基準画像を生成する第1のステップと、 前記X線検査部でX線を前記基準となるプリント基板に照射し、その透過像をX線基準画像として生成する第2のステップと、 前記外観検査部で光を検査対象となるプリント基板に照射し、その反射光に基づく画像と前記光学基準画像とを比較することにより、前記プリント基板における前記電子部品の接続部分の良否を判別する第3のステップと、 前記X線検査部で前記第3のステップで良否の判別された前記プリント基板にX線を照射して透過したX線像を撮影したX線像と前記X線基準画像とを比較して、前記プリント基板における前記電子部品の接続部分の良否を判別する第4のステップとを備えたことを特徴とする、基板検査方法。
IPC (3)：
G01N21/956 ,  G01N23/04 ,  H05K3/34
FI (3)：
G01N21/956 B ,  G01N23/04 ,  H05K3/34 512B
F-Term (25)：
2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001BA15 ,  2G001BA30 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001CA10 ,  2G001FA02 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001KA20 ,  2G001LA11 ,  2G001PA11 ,  2G001SA15 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  5E319AA03 ,  5E319AB05 ,  5E319CC22 ,  5E319CD53
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM