Pat
J-GLOBAL ID:200903012670367588

分子ふるい炭素およびその製造方法、ならびに窒素発生装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007251605
Publication number (International publication number):2009084068
Application date: Sep. 27, 2007
Publication date: Apr. 23, 2009
Summary:
【課題】従来のPSA窒素発生装置と比較して大幅な高効率化を可能とする分子ふるい炭素およびその製造方法、ならびに該分子ふるい炭素を用いた窒素発生装置を提供する。【解決手段】多数の炭素一次粒子が三次元的に不規則に重なり、かつ合体された構造を有し、該炭素一次粒子の平均粒径が10μm以下であり、かつ(炭素一次粒子径の標準偏差)/(炭素一次粒子の平均粒径)で示される炭素一次粒子の粒径分布の変動係数が0.65以下であり、粒子嵩密度が0.7〜1.2g/ccである分子ふるい炭素である。【選択図】図2
Claim (excerpt):
多数の炭素一次粒子が三次元的に不規則に重なり、かつ合体された構造を有し、 前記炭素一次粒子の平均粒径が10μm以下であり、かつ下記式[1]で示される炭素一次粒子の粒径分布の変動係数が0.65以下であり、 粒子嵩密度が0.7〜1.2g/ccである、分子ふるい炭素。 炭素一次粒子の粒径分布の変動係数=(炭素一次粒子径の標準偏差)/(炭素一次粒子の平均粒径) [1]
IPC (6):
C01B 31/02 ,  C01B 37/00 ,  C01B 21/04 ,  B01D 53/04 ,  B01J 20/20 ,  C08G 8/00
FI (6):
C01B31/02 101Z ,  C01B37/00 ,  C01B21/04 D ,  B01D53/04 B ,  B01J20/20 B ,  C08G8/00 D
F-Term (72):
4D012BA03 ,  4D012CA06 ,  4D012CB05 ,  4D012CB16 ,  4D012CD07 ,  4D012CG01 ,  4D012CG02 ,  4D012CG05 ,  4D012CJ01 ,  4G066AA04B ,  4G066AB29A ,  4G066AB30D ,  4G066AC06A ,  4G066AC12A ,  4G066AC25A ,  4G066BA09 ,  4G066BA25 ,  4G066BA38 ,  4G066CA37 ,  4G066EA09 ,  4G066FA03 ,  4G066FA23 ,  4G066FA27 ,  4G066FA28 ,  4G066FA33 ,  4G066FA34 ,  4G073BA62 ,  4G073BD11 ,  4G073CZ53 ,  4G073FD24 ,  4G073GA11 ,  4G073GA19 ,  4G073UA06 ,  4G073UB60 ,  4G146AA01 ,  4G146AB02 ,  4G146AB10 ,  4G146AC02A ,  4G146AC02B ,  4G146AC22A ,  4G146AC22B ,  4G146AC28A ,  4G146AC28B ,  4G146AD12 ,  4G146BA13 ,  4G146BA18 ,  4G146BA24 ,  4G146BA40 ,  4G146BA45 ,  4G146BA46 ,  4G146BB04 ,  4G146BB05 ,  4G146BC03 ,  4G146BC23 ,  4G146BC33A ,  4G146BC33B ,  4G146BC37B ,  4J033CA01 ,  4J033CA02 ,  4J033CA03 ,  4J033CA05 ,  4J033CA11 ,  4J033CA12 ,  4J033CA13 ,  4J033CA22 ,  4J033CB02 ,  4J033CB23 ,  4J033CB25 ,  4J033CB27 ,  4J033CC03 ,  4J033CD05 ,  4J033HB00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
Show all
Cited by examiner (6)
Show all

Return to Previous Page