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J-GLOBAL ID：200903013884293987

金属試料中介在物の評価方法、評価装置、コンピュータプログラム、およびコンピュータ読み取り可能な記憶媒体

Inventor：
水上 和実

About 水上 和実

, 
水野 薫

About 水野 薫

, 
草野 祥昌

About 草野 祥昌


Applicant, Patent owner：
新日本製鐵株式会社

About 新日本製鐵株式会社


Agent (4)： 石田 敬 ,  鶴田 準一 ,  古賀 哲次 ,  西山 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003166773
Publication number (International publication number)：2004163400
Application date： Jun. 11, 2003
Publication date： Jun. 10, 2004
Summary：
【課題】金属試料中の介在物等を直接的に、迅速かつ正確に評価する方法および装置を提供すること。【解決手段】金属試料にスパーク放電を、例えば10回程度、繰返して金属試料中に存在する非金属介在物及び/または析出物が選択的放電を起こした段階であって、放電が非選択的放電に遷移する以前の段階で、その選択放電を起こした金属試料の表面を直接に映像的に観察評価することを特徴する金属試料中介在物等の評価方法および装置又、コンピュータプログラムおよび記憶媒体。【選択図】 図7
Claim (excerpt)：
金属試料の表層と電極との間に電場を印加して、該表層に存在する介在物および/または析出物と電極との間に選択的にスパーク放電を発生させ、該放電が非選択的放電に遷移する以前の段階で複数回スパーク放電を行い、前記金属試料の表層を映像的観察評価することにより、介在物および/または析出物の形状、個数、大きさ、存在領域および/または粒度分布を求めることを特徴とする金属試料中介在物の評価方法。
IPC (3)：
G01N21/67 ,  G01N15/02 ,  G01N33/20
FI (3)：
G01N21/67 A ,  G01N15/02 D ,  G01N33/20 J
F-Term (23)：
2G043AA01 ,  2G043AA03 ,  2G043BA01 ,  2G043BA07 ,  2G043CA05 ,  2G043DA01 ,  2G043EA09 ,  2G043EA15 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA25 ,  2G043GB21 ,  2G043GB28 ,  2G043JA02 ,  2G043JA04 ,  2G043KA02 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G055AA01 ,  2G055BA04 ,  2G055BA20 ,  2G055FA02
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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