Pat
J-GLOBAL ID:200903016446692681
光表面特性の測角検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
志賀 正武
, 渡邊 隆
, 村山 靖彦
, 実広 信哉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005206140
Publication number (International publication number):2006030204
Application date: Jul. 14, 2005
Publication date: Feb. 02, 2006
Summary:
【課題】 一方で、例えば僅かに異なる立体角で塗装部の種々に眺めることによって生じるそのような変化を分離することができるが、他方で、互いに著しく異なっている角度での観察も実施できるようにすることにある。【解決手段】 本発明による光表面特性を検査する装置は、少なくとも一つの所定の第一立体角にして検査すべき表面に放射する少なくとも一つの第一照射装置と、前記表面に照射し、この表面から戻って来る輻射を捕捉する少なくとも一つの第一検出装置とを備えている。前記検出装置は輻射の位置分解された検出を行うことができ、前記表面に対して少なくとも一つの所定の第二立体角にして配置されている。その場合、前記照射装置および/または前記検出装置を配置する少なくとも一つの立体角が可変できるようになっている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
少なくとも一つの所定の第一立体角にして検査すべき表面に放射する少なくとも一つの第一照射装置と、
前記表面に照射し、この表面から戻って来る輻射を捕捉する少なくとも一つの第一検出装置と、を備え、その場合、前記検出装置が輻射の位置分解された検出を行うことができ、前記表面に対して少なくとも一つの所定の第二立体角にして配置されていて、
前記照射装置および/または前記検出装置を配置する少なくとも一つの立体角が可変できるようになっている、
ことを特徴とする光表面特性を検査する装置。
IPC (3):
G01N 21/27
, G01J 3/46
, G01N 21/57
FI (3):
G01N21/27 B
, G01J3/46 Z
, G01N21/57
F-Term (19):
2G020AA08
, 2G020DA02
, 2G020DA06
, 2G020DA22
, 2G020DA31
, 2G020DA45
, 2G059AA02
, 2G059BB10
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059GG01
, 2G059GG02
, 2G059GG10
, 2G059HH02
, 2G059KK01
, 2G059KK04
, 2G059KK10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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構築面の質を判定する装置及びその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-059648
Applicant:ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
-
反射体の特性を決定する装置及びその方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-137514
Applicant:ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
-
反射材料のための高スピード傷検出装置及び方法
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Application number:特願2001-501857
Applicant:フィリップ・モーリス・プロダクツ・インコーポレイテッド
-
磁気記録媒体の配向度評価装置および方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-337428
Applicant:花王株式会社
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表面検査装置
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Application number:特願平7-344397
Applicant:日本鋼管株式会社
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Application number:特願2002-340787
Applicant:アルプス電気株式会社
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Application number:特願2001-016586
Applicant:大日本印刷株式会社
-
表面品質を決定するためのデバイスおよび方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-201360
Applicant:ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
-
特開平4-237114
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