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J-GLOBAL ID:200903016587192615
酸化物半導体材料及びその製造方法、電子デバイス及び電界効果トランジスタ
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
長谷川 芳樹
, 清水 義憲
, 三上 敬史
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007296984
Publication number (International publication number):2009123957
Application date: Nov. 15, 2007
Publication date: Jun. 04, 2009
Summary:
【課題】 実用に耐え得る酸化物半導体材料、これを用いた電界効果トランジスタ等の電子デバイス、及び酸化物半導体材料の製造方法を提供する。【解決手段】 この酸化物半導体材料の製造方法では、Zn及びSnを含有する酸化物ターゲットを用意し、基板をチャンバ内に配置し、酸化物ターゲットをチャンバ内に配置する。酸化物ターゲットを希ガスでスパッタすることによりターゲット材料を基板上に堆積する。この酸化物半導体材料は、Inを含有せず、且つ、電子キャリア濃度が1×1015/cm3より大きく1×1018/cm3未満となるようにする。スパッタ時においては、酸化物ターゲットと同時にスパッタされる位置に、ドーパント材料を更に配置することが好ましい。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
酸化物半導体材料であって、
Zn及びSnを含有し、
Inを含有せず、且つ、
電子キャリア濃度が1×1015/cm3より大きく1×1018/cm3未満である、
ことを特徴とする酸化物半導体材料。
IPC (4):
H01L 29/786
, H01L 21/363
, H01L 21/336
, C23C 14/08
FI (5):
H01L29/78 618B
, H01L21/363
, H01L29/78 618F
, H01L29/78 618A
, C23C14/08 K
F-Term (37):
4K029AA09
, 4K029BA50
, 4K029BB10
, 4K029BD01
, 4K029CA06
, 4K029DC05
, 4K029DC09
, 4K029DC35
, 5F103AA08
, 5F103DD30
, 5F103GG03
, 5F103HH04
, 5F103KK01
, 5F103KK10
, 5F103LL07
, 5F103NN01
, 5F103PP11
, 5F110AA05
, 5F110BB01
, 5F110CC03
, 5F110DD02
, 5F110DD05
, 5F110EE08
, 5F110FF02
, 5F110GG04
, 5F110GG06
, 5F110GG07
, 5F110GG15
, 5F110GG25
, 5F110GG28
, 5F110GG29
, 5F110GG32
, 5F110GG34
, 5F110GG43
, 5F110HK02
, 5F110HK04
, 5F110HK21
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
薄膜トランジスタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-096983
Applicant:シャープ株式会社
-
透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-208948
Applicant:ホーヤ株式会社
-
非晶質酸化物を利用した半導体デバイス
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-325370
Applicant:キヤノン株式会社, 国立大学法人東京工業大学
-
三元化合物チャネル層を有する半導体デバイス
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-521845
Applicant:ヒューレット-パッカードデベロップメントカンパニーエル.ピー., ステート・オブ・オレゴン・アクティング・バイ・アンド・スルー・ザ・ステート・ボード・オブ・ハイヤー・エデュケーション・オン・ビハーフ・オブ・オレゴン・ステート・ユニバーシティ
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Article cited by the Patent:
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