粒子特性計測装置および粒子特性計測方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：亀井岳行
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006154916
Publication number (International publication number)：2007322329
Application date： Jun. 02, 2006
Publication date： Dec. 13, 2007
Summary：

【課題】粒子径とゼータ電位を一度に測定すること。【解決手段】溶媒中に分散したブラウン運動を行う粒子を含む液体試料が収容された試料室(16a)と、前記試料室(16a)内に配置された一対の電極(17)と、前記一対の電極(17)間に電界を発生させる電界発生回路(12)と、前記電界中を電気泳動する前記粒子の移動を計測する粒子移動計測手段(P13a)と、電気泳動する前記粒子のブラウン運動による移動量に基づいて粒子径を検出する粒子径検出手段(P13b)と、前記粒子の電気泳動による電気泳動移動度と前記粒子径とに基づいて、ゼータ電位を検出するゼータ電位検出手段(P13c)と、を備えた粒子特性計測装置(D0)。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

溶媒中に分散したブラウン運動を行う粒子を含む液体試料が収容された試料室と、前記試料室内に配置された一対の電極と、前記一対の電極間に電界を発生させる電界発生回路と、前記電界中を電気泳動する前記粒子の移動を計測する粒子移動計測手段と、電気泳動する前記粒子のブラウン運動による移動量に基づいて粒子径を検出する粒子径検出手段と、前記粒子の電気泳動による電気泳動移動度と前記粒子径とに基づいて、ゼータ電位を検出するゼータ電位検出手段と、を備えたことを特徴とする粒子特性計測装置。

IPC (2)：

G01N 15/02 , G01N 27/26

FI (2)：

G01N15/02 D , G01N27/26 P

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

暗視野式微粒子測定装置および暗視野式微粒子測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-436143 Applicant：木倉宏成

Cited by examiner (6)

暗視野式微粒子測定装置および暗視野式微粒子測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-436143 Applicant：木倉宏成
懸濁粒子分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-272780 Applicant：株式会社島津製作所
複雑流体の局所粘弾性測定法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-257295 Applicant：科学技術振興事業団

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