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J-GLOBAL ID：200903019586295584

光画像計測装置

Inventor：
西尾 豊

About 西尾 豊

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岡田 浩昭

About 岡田 浩昭

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木川 勉

About 木川 勉

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弓掛 和彦

About 弓掛 和彦


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007109027
Publication number (International publication number)：2008267891
Application date： Apr. 18, 2007
Publication date： Nov. 06, 2008
Summary：
【課題】被測定物体の計測範囲や計測タイミングを高精度で設定できる光画像計測装置を提供する。【解決手段】眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0を信号光LSと参照光LRに分割し、被検眼Eを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRを重畳して得られる干渉光LCを検出して眼底Efの画像を形成する光画像計測装置である。眼底観察装置1は、被検眼Eに対して信号光LSを走査する走査ユニット141を有する。眼底画像Ef′に断面位置が指定されると、眼底観察装置1は、各断面位置に沿って信号光LSを反復走査させて各断面位置における断層画像を反復して形成し、それにより各断面位置における断層動画像を表示部240Aに表示する。オペレータは、断層動画像を観察し、断層静止画像の計測範囲や計測タイミングを指定できる。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、 前記生成された干渉光を検出する検出手段と、 前記被検眼に対して前記信号光を走査する走査手段と、 を有し、前記検出手段による検出結果に基づいて前記被検眼の画像を形成する光画像計測装置であって、 前記被検眼における1つ以上の断面位置を指定するための指定手段と、 前記走査手段を制御し、前記指定された各断面位置に沿って信号光を反復走査させる制御手段と、 前記反復走査される信号光に基づく干渉光の検出結果に基づいて、前記各断面位置における断層画像を反復して形成する画像形成手段と、 前記反復して形成される断層画像に基づいて、前記各断面位置における断層動画像を表示する表示手段と、 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (2)：
G01N 21/17 ,  A61B 3/12
FI (2)：
G01N21/17 630 ,  A61B3/12 Z
F-Term (16)：
2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (4)
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