Pat
J-GLOBAL ID:200903019915237558
格子画像の位相解析方法およびそれを用いた物体の変位測定方法ならびに物体の形状測定方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
西教 圭一郎
, 杉山 毅至
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008113236
Publication number (International publication number):2009264852
Application date: Apr. 23, 2008
Publication date: Nov. 12, 2009
Summary:
【課題】 簡単な構成で材料および構造物などの物体の変位や形状やひずみを高精度で検出することができる位相解析方法を提供する。【解決手段】 撮影された画像の元の輝度値(a)の左もしくは右から(縦方向の場合、上もしくは下から)1番目のスタート点から整数倍画素N(Nは3以上)毎に間引き(b)、左から2番目のスタート点からN画素毎に間引き(c)、左から3番目のスタート点からN画素毎に間引き(d)、抜けた画像データを線形補間することによって、元の画像を同じ解像度の画像を得る。【選択図】 図5
Claim (excerpt):
物体の表面に存在する格子模様の所定の領域を光学式カメラで撮影し、
前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めることを特徴とする格子画像の位相解析方法。
IPC (3):
G01B 11/16
, G01B 11/25
, G01B 11/00
FI (3):
G01B11/16 H
, G01B11/25 H
, G01B11/00 H
F-Term (20):
2F065AA09
, 2F065AA24
, 2F065AA53
, 2F065AA65
, 2F065CC14
, 2F065FF06
, 2F065FF09
, 2F065HH06
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL41
, 2F065QQ00
, 2F065QQ01
, 2F065QQ03
, 2F065QQ13
, 2F065QQ17
, 2F065QQ26
, 2F065QQ32
, 2F065QQ41
, 2F065QQ42
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
-
応力分布測定テープおよび応力分布測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-402921
Applicant:藤本由紀夫, 新宅英司
-
構造物における変形量計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-148851
Applicant:日立造船株式会社, 公立大学法人大阪府立大学
Cited by examiner (10)
-
2次元情報測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-143851
Applicant:中楯末三
-
モアレ測定方法及びそれを用いたモアレ測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-301681
Applicant:キヤノン株式会社
-
物体の三次元形状計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-192452
Applicant:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page