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J-GLOBAL ID：200903021458405487

液晶系偏光分析装置、該偏光分析装置の較正方法、および偏光分析測定方法

Inventor：
ドレビロン ベルナール

About ドレビロン ベルナール

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ドゥ マルティノ アントネロ

About ドゥ マルティノ アントネロ


Applicant, Patent owner：
サーントル ナスィヨナル ドゥ ラ ルシェルシュ スイヤンティフィック

About サーントル ナスィヨナル ドゥ ラ ルシェルシュ スイヤンティフィック

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エコール ポリテクニク

About エコール ポリテクニク


Agent (4)： 武田 正彦 ,  滝口 昌司 ,  中里 浩一 ,  川崎 仁
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003354750
Publication number (International publication number)：2004271510
Application date： Oct. 15, 2003
Publication date： Sep. 30, 2004
Summary：
【課題】機械的移動部材を使用しない偏光の変調、画像形成用途における広い十分な受容角度の提供、誤差伝搬に関しての最適化を含む単純でコンパクトな設計、およびリアルタイム測定の迅速なデータ獲得のうちの1つ以上を有する偏光分析装置を提供する。【解決手段】光ビームを発する励起領域1で、入射光ビーム2を偏光方向に沿って線形偏光させる偏光子5を含む偏光状態発生器4と、分析器9と検出手段10を含む偏光状態検出器8、およびプロセッシング装置11、偏光状態発生器4 (PSG)および偏光状態検出器8(PSD)が、各々、第1および第2の液晶素子13、14を含み、PSGの各LCj素子13は、偏光方向に対して角度θjをなす異常軸および通常軸と異常軸間の位相遅れδjを有し、各液晶素子14はPSGの各LCj素子に対してPSD内で逆順に位置し、方位角θ’jはθjに等しく、位相遅れδ’jは-δjに等しくした。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
-光ビームを発出する励起領域(1)であって、入射光ビーム(2)を偏光方向(i)に沿って線形に偏光させる偏光子(5)を含む偏光状態発生器(4)を含む前記励起領域(1)、 -分析器(9)と検出手段(10)を含む偏光状態検出器(8)を含む分析領域(3)、および -プロセッシング装置(11)を含み; 前記偏光状態発生器(4) (PSG)および偏光状態検出器(8) (PSD)が、各々、第1および第2の液晶素子(13、14)LCj (j = 1,2)を含み、前記PSGの各LCj素子(13)において(前記PSDの各LC’j素子(14)のそれぞれにおいて)は、偏光方向(i)に対して角度θj (θ’j)をなす異常軸および通常軸と異常軸間の位相遅れδj (δ’j)を有し、前記各液晶(LC’j)素子(14)は前記PSGの各LCj素子に対して前記PSD内で逆の順序に位置し、そして、 -前記方位角θ’jはθjに等しく(j = 1、2)、前記位相遅れδ’jは-δjに等しい(j = 1、2)、(2πを法として); ことを特徴とするサンプル分析用の偏光分析装置。
IPC (2)：
G01N21/21 ,  G02F1/13
FI (2)：
G01N21/21 Z ,  G02F1/13 505
F-Term (13)：
2G059AA02 ,  2G059BB12 ,  2G059EE05 ,  2G059FF01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK01 ,  2H088EA22 ,  2H088EA47 ,  2H088GA02 ,  2H088JA17 ,  2H088MA20
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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