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J-GLOBAL ID：200903021686794744

蛍光X線分析装置

Inventor：
宇高 忠

About 宇高 忠

, 
高村 浩太郎

About 高村 浩太郎

, 
芦田 肇

About 芦田 肇


Applicant, Patent owner：
アワーズテック株式会社

About アワーズテック株式会社


Agent (1)： 山村 喜信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002317633
Publication number (International publication number)：2004150990
Application date： Oct. 31, 2002
Publication date： May. 27, 2004
Summary：
【課題】1度の分析操作で、測定試料中の原子番号が離れた複数の微量元素を分析可能とする蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】1次フィルタ7は、原子番号が互いに異なる第1元素および第2元素をフィルタ成分として含み、第1元素は1次X線3における第1エネルギ帯域31を主に吸収する。一方、第2元素は1次X線の連続X線における第1エネルギ帯域31よりもエネルギの大きい帯域で、かつ、第1エネルギ帯域31に隣接しない第2エネルギ帯域32を主に吸収する。吸収後の1次X線3には、第2エネルギ帯域32の両側の第3および第4エネルギ帯域33、34が第1および第2励起成分として含まれる。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
X線源から1次フィルタを介して、測定試料に1次X線を照射し、該1次X線を受けた測定試料からの蛍光X線を検出器で検出することにより、前記測定試料の元素分析を行う蛍光X線分析装置において、 前記1次フィルタは、原子番号が互いに異なる第1元素および第2元素をフィルタ成分として含み、 前記第1元素は前記1次X線における第1エネルギ帯域を主に吸収し、 前記第2元素は前記1次X線の連続X線における前記第1エネルギ帯域よりもエネルギの大きい帯域で、かつ、前記第1エネルギ帯域に隣接しない第2エネルギ帯域を主に吸収し、 前記吸収後の1次X線には、前記第2エネルギ帯域の両側の第3および第4エネルギ帯域が第1および第2励起成分として含まれ、 前記第1および/または第2励起成分が連続X線の一部を含むことを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (3)：
G01N23/223 ,  G21K3/00 ,  G21K5/02
FI (5)：
G01N23/223 ,  G21K3/00 M ,  G21K3/00 S ,  G21K3/00 Z ,  G21K5/02 X
F-Term (21)：
2G001AA01 ,  2G001AA09 ,  2G001AA10 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA03 ,  2G001EA06 ,  2G001EA20 ,  2G001FA02 ,  2G001FA06 ,  2G001FA08 ,  2G001GA04 ,  2G001GA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA05 ,  2G001KA01 ,  2G001NA10 ,  2G001NA12 ,  2G001NA16 ,  2G001PA02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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