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J-GLOBAL ID:200903023708179081
蛍光画像計測装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001241863
Publication number (International publication number):2003057180
Application date: Aug. 09, 2001
Publication date: Feb. 26, 2003
Summary:
【要約】【課題】安価な構成でサンプルの位置決めを容易に行なうことのできる蛍光画像計測装置を実現する。【解決手段】2次元状に広がるサンプルに励起光を照射しサンプルに付着した蛍光物質から発生する蛍光を計測することによりサンプルを検出するようにした蛍光画像計測装置において、サンプルを通過またはサンプル表面で反射した励起光を受光する2次元状の受光素子と、この受光素子による観察像に基づいてサンプルの位置を移動させる移動手段を備える。
Claim (excerpt):
2次元状に広がるサンプルに励起光を照射しサンプルに付着した蛍光物質から発生する蛍光を計測することによりサンプルを検出するようにした蛍光画像計測装置において、サンプルを通過またはサンプル表面で反射した励起光を受光する2次元状の受光素子と、この受光素子による観察像に基づいてサンプルの位置を移動させる移動手段を具備したことを特徴とする蛍光画像計測装置。
IPC (7):
G01N 21/64
, G02B 21/00
, G06T 1/00 295
, G06T 1/00 450
, H04N 1/028
, H04N 1/04
, H04N 1/04 106
FI (7):
G01N 21/64 E
, G02B 21/00
, G06T 1/00 295
, G06T 1/00 450 A
, H04N 1/028 Z
, H04N 1/04 106 Z
, H04N 1/04 E
F-Term (59):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA09
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043GA07
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043JA02
, 2G043KA02
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2H052AA07
, 2H052AA08
, 2H052AA09
, 2H052AC04
, 2H052AC05
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 5B047AA15
, 5B047AA17
, 5B047BB04
, 5B047BC05
, 5B047BC11
, 5B047BC16
, 5B047CA12
, 5B047CB23
, 5B057AA10
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CD02
, 5B057DA07
, 5C051AA01
, 5C051BA02
, 5C051DA06
, 5C051DB01
, 5C051DB22
, 5C051DB23
, 5C051DB30
, 5C051DC03
, 5C051DC04
, 5C051DC07
, 5C051DE09
, 5C072AA01
, 5C072BA20
, 5C072CA06
, 5C072DA02
, 5C072DA09
, 5C072DA21
, 5C072DA30
, 5C072EA08
, 5C072HA02
, 5C072HA06
, 5C072HA10
, 5C072RA04
, 5C072VA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
-
走査型光学顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-034733
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
共焦点用光スキヤナ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-015411
Applicant:横河電機株式会社
-
抗核抗体反応判定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-135956
Applicant:スズキ株式会社
-
光計測方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-255297
Applicant:富士写真フイルム株式会社
-
光学試料の厚さを測定する装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-246353
Applicant:ベクトン・ディキンソン・アンド・カンパニー
-
DNA検査方法及びDNA検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-283826
Applicant:株式会社日立製作所
-
パターン欠陥検査装置及びレーザ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-106191
Applicant:レーザーテック株式会社
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