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J-GLOBAL ID:200903023792664526

窒化物半導体基板及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (8): 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003295341
Publication number (International publication number):2005060195
Application date: Aug. 19, 2003
Publication date: Mar. 10, 2005
Summary:
【課題】 窒化物半導体基板の反りの防止及び低価格化【解決手段】 単結晶基板に形成された窒化物半導体層を安価なセラミックス基板に融着させ、単結晶基板を剥離除去する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
セラミック基板、及び 該セラミック基板上に融着された、下記一般式(1)で表される窒化物半導体層 (AlxGa1-x)1-yInyN (0≦x≦1,0≦y≦1)...(1) を具備することを特徴とする窒化物半導体基板。
IPC (5):
C30B29/38 ,  C04B35/495 ,  C04B37/00 ,  H01L21/02 ,  H01L33/00
FI (6):
C30B29/38 D ,  C04B37/00 C ,  H01L21/02 B ,  H01L21/02 C ,  H01L33/00 C ,  C04B35/00 J
F-Term (49):
4G026BA03 ,  4G026BA13 ,  4G026BA14 ,  4G026BA16 ,  4G026BA17 ,  4G026BB12 ,  4G026BB15 ,  4G026BC01 ,  4G026BD03 ,  4G026BD08 ,  4G026BE04 ,  4G026BF06 ,  4G026BF46 ,  4G026BF51 ,  4G026BF57 ,  4G026BG02 ,  4G026BG04 ,  4G026BG06 ,  4G026BG25 ,  4G026BG27 ,  4G026BG28 ,  4G026BH06 ,  4G030AA36 ,  4G030AA47 ,  4G030AA51 ,  4G030AA52 ,  4G030AA60 ,  4G030BA12 ,  4G030BA21 ,  4G030CA07 ,  4G030CA08 ,  4G030GA32 ,  4G030GA33 ,  4G030GA34 ,  4G077AA03 ,  4G077BE11 ,  4G077BE15 ,  4G077DB08 ,  4G077ED06 ,  4G077FJ03 ,  4G077HA12 ,  4G077TB05 ,  4G077TC16 ,  4G077TK11 ,  5F041AA40 ,  5F041CA40 ,  5F041CA46 ,  5F041CA64 ,  5F041CA77
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (2)

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