粒径分布測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西村竜平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004253652
Publication number (International publication number)：2006071385
Application date： Aug. 31, 2004
Publication date： Mar. 16, 2006
Summary：

【課題】粒径分布測定装置のユーザが処理手順データの保存場所等について配慮を要することなく、直感的に容易な操作で処理手順データを管理及び保護でき、しかもシンプルに作成・編集・管理に係る操作を行え、更に処理手順データの再利用を促すことで効率的に改善が進み、ユーザ毎に最適な処理手順データを作成可能とする粒径分布測定装置を提供する。【解決手段】制御測定装置が前記処理手順を示す処理手順データをユーザからの入力により受け付ける入力受付部35と、その入力の支援をするための入力支援画面Cを表示する表示部34と、メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部4を設定しそのデータ格納部4に前記入力受付部35で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに前記データ格納部4に格納されている1又は複数の前記処理手順データを取得しその内容を前記入力支援画面Cに表示するデータ管理部33とを備えるようにした。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

一連の複数の処理を行って試料の粒径分布測定を行う装置本体と、前記装置本体における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体からの測定結果をモニタする制御測定装置とを備えたものにおいて、前記制御測定装置が、前記処理手順を示す処理手順データを、ユーザからの入力により受け付ける入力受付部と、その入力の支援をするための入力支援画面を表示する表示部と、メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部を設定し、そのデータ格納部に、前記入力受付部で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに、前記データ格納部に格納されている1又は複数の前記処理手順データを取得し、その内容を前記入力支援画面に表示するデータ管理部とを備えていることを特徴とする粒径分布測定装置。

IPC (1)：

G01N 15/02

FI (1)：

G01N15/02 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

測定機器の制御用プログラム、測定機器および測定機器の制御用プログラムを記憶したコンピュータ読取可能な記憶媒体
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-353352 Applicant：株式会社堀場製作所, ジョバンイボンソシエテアノニム

Cited by examiner (9)

分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-033025 Applicant：株式会社堀場製作所
分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-261240 Applicant：株式会社堀場製作所
データ記憶装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-184188 Applicant：富士通株式会社

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