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J-GLOBAL ID：200903024536083733

物体の3次元形状測定方法及び装置

Inventor： アルミン マイトホーフ ,  ペーター アンドレ ,  マンフレート アドルハルト ,  ミハエル カウス ,  マルクス バーゼル ,  フランク トス ,  マルクス ラツァー ,  トーマス ナスヴェッター ,  ハンス シュタインビフラー
Applicant, Patent owner： シュタインビフラー オプトテヒニク ゲーエムベーハー
Agent (1)： 前田 弘 (外7名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2001584823
Publication number (International publication number)：2003533685
Application date： May. 16, 2001
Publication date： Nov. 11, 2003
Summary：

【要約】 本発明は、物体の3次元輪郭を測定する方法に関する。この種の方法を改良するために、物体(5)の複数の領域が計測される。少なくとも1回の計測作業の間に、少なくとも1つの基準対象(4)が計測される。物体(5)の計測された領域が結合される(1)。

Claim (excerpt)：

物体の3次元形状を測定する方法であって、 物体(5)の複数の領域を計測し、 少なくとも1回の計測の間に少なくとも1つの基準対象(4)を計測し、 上記物体(5)の計測された領域を互いに連結する物体の3次元形状測定方法。

IPC (2)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/25

FI (2)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 11/24 E

F-Term (20)：

2F065AA04 ,  2F065AA14 ,  2F065AA20 ,  2F065AA51 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F069AA04 ,  2F069AA06 ,  2F069FF07 ,  2F069GG01 ,  2F069GG04 ,  2F069GG07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

• 3次元モデリング装置、3次元モデリング方法および3次元モデリングプログラムを記録した媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-191868   Applicant：三洋電機株式会社
• 形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-173275   Applicant：松尾橋梁株式会社, 株式会社アイティーティー
• 画像計測方法及び画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-330505   Applicant：キヤノン株式会社
• 測定範囲に制限のない3次元測定器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-033892   Applicant：宗平聖士郎
• 特開平1-119708
  
• 三次元形状抽出方法及び装置並びに記憶媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-263769   Applicant：キヤノン株式会社
• 特表平5-501006