Pat
J-GLOBAL ID:200903024656448514

拡大撮像装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大菅 義之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007121870
Publication number (International publication number):2008276070
Application date: May. 02, 2007
Publication date: Nov. 13, 2008
Summary:
【課題】本発明では、対物レンズと試料との間に介在するカバーガラス、ガラスシャーレ、又はプラスチック容器等の試料を保持する媒質の厚さや屈折率が異なる場合に生じる諸収差を自動的に補正する撮像装置を提供する。【解決手段】本発明の上記課題は、観察する試料と、前記試料と対物レンズとの間に介在する透過性を有する試料保持部材と、前記試料保持部材の光学的な厚さの誤差に起因して発生する収差を補正する補正環機構を備えた補正環付き対物レンズと、前記試料保持部材の光学的な厚さを検出する光学厚さ検出手段と、前記光学厚さ検出手段により検出された前記試料保持部材の光学的な厚さをもとに、収差補正量を求める演算手段と、前記演算手段で求めた前記収差補正量に基づいて前記補正環を駆動させる駆動手段と、前記対物レンズと前記試料との距離を変える合焦手段と、前記対物レンズを通った前記試料の像を撮像する撮像手段を備えることによって解決される。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
観察する試料と、 前記試料と対物レンズとの間に介在する透過性を有する試料保持部材と、 前記試料保持部材の光学的な厚さの誤差に起因して発生する収差を補正する補正環機構を備えた補正環付き対物レンズと、 前記試料保持部材の光学的な厚さを検出する光学的厚さ検出手段と、 前記光学厚さ検出手段により検出された前記試料保持部材の光学的な厚さをもとに、収差補正量を求める演算手段と、 前記演算手段で求めた前記収差補正量に基づいて前記補正環機構を駆動させる駆動手段と、 前記対物レンズと前記試料との距離を変える合焦手段と、 前記対物レンズを通った前記試料の像を撮像する撮像手段と、 を備えたことを特徴とする拡大撮像装置。
IPC (2):
G02B 21/00 ,  G02B 21/36
FI (2):
G02B21/00 ,  G02B21/36
F-Term (11):
2H052AA01 ,  2H052AB01 ,  2H052AB08 ,  2H052AD09 ,  2H052AD10 ,  2H052AE01 ,  2H052AE06 ,  2H052AF03 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 顕微鏡
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-242632   Applicant:オリンパス光学工業株式会社
  • 顕微鏡装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-261420   Applicant:株式会社ニコン
Cited by examiner (11)
Show all

Return to Previous Page