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J-GLOBAL ID:200903025612014530

窒化物系III-V族化合物半導体の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松隈 秀盛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998229101
Publication number (International publication number):2000058462
Application date: Aug. 13, 1998
Publication date: Feb. 25, 2000
Summary:
【要約】【課題】 非発光センタの少ない、結晶性に優れた窒化物系III -V族化合物半導体を製造する。【解決手段】 III 族元素の原料と、V族元素の原料のアンモニアと、水素を用いて、気相成長により、窒化物系III -V族化合物半導体を製造する場合に、水素とアンモニアの合計量に対する水素の気相モル比(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>))を、0.3<(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>))<0.7、0.3<(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>))<0.6、あるいは0.4<(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>))<0.5に特定する。
Claim (excerpt):
少なくとも、III 族元素の原料と、V族元素の原料のアンモニアと、水素を用いて、気相成長により、窒化物系III -V族化合物半導体を製造する方法であって、上記水素と上記アンモニアの合計量に対する水素の気相モル比、(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>)と記す)が、0.3<(H<SB>2 </SB>/(H<SB>2 </SB>+NH<SB>3 </SB>))<0.7であることを特徴とする化合物半導体の製造方法。
IPC (3):
H01L 21/205 ,  H01L 33/00 ,  H01S 5/30
FI (3):
H01L 21/205 ,  H01L 33/00 C ,  H01S 3/18
F-Term (50):
5F041AA03 ,  5F041AA11 ,  5F041AA31 ,  5F041CA34 ,  5F041CA40 ,  5F041CA65 ,  5F045AA04 ,  5F045AB14 ,  5F045AB17 ,  5F045AB19 ,  5F045AC01 ,  5F045AC08 ,  5F045AC09 ,  5F045AC12 ,  5F045AD09 ,  5F045AD13 ,  5F045AD14 ,  5F045AD15 ,  5F045AE02 ,  5F045AE03 ,  5F045AE05 ,  5F045AE07 ,  5F045AE09 ,  5F045AE11 ,  5F045AE13 ,  5F045AE15 ,  5F045AE17 ,  5F045AE19 ,  5F045AE21 ,  5F045AE23 ,  5F045AE25 ,  5F045AE29 ,  5F045AE30 ,  5F045AF09 ,  5F045BB12 ,  5F045CB02 ,  5F045DP04 ,  5F045DQ06 ,  5F045EE04 ,  5F045EE12 ,  5F045EE14 ,  5F045EG07 ,  5F045EK02 ,  5F073CA02 ,  5F073CA07 ,  5F073CB05 ,  5F073CB07 ,  5F073DA05 ,  5F073DA35 ,  5F073EA29
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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