Pat
J-GLOBAL ID：200903026694029528

標識材料を検出するシステムおよび方法

Inventor：
スターン,デイビッド

About スターン,デイビッド


Applicant, Patent owner：
アフィメトリックス,インコーポレイテッド

About アフィメトリックス,インコーポレイテッド


Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997541141
Publication number (International publication number)：2000512744
Application date： May. 15, 1997
Publication date： Sep. 26, 2000
Summary：
【要約】サンプルの標識された領域を供給源(102)からの放射に曝し、そこからの発光を検出し(140、126)、サンプルが完全に検査されるまで露出および検出の工程を繰り返すことによって、ポリマーシーケンスと合成された支持体上の既知の位置にある標識された標的を検出することができる。
Claim (excerpt)：
基板の表面上のマークされた領域を検出するシステムであって、 励起放射源と、 該励起放射源からの放射を該基板の該表面の選択領域上にフォーカシングさせる焦点システムであって、フォーカスされたスポット径に対する走査フィールド径の比が約2000より大きく且つ開口数が約0.2よりも大きい対物レンズを含むフォーカシングシステムと、 該基板の該表面にわたって少なくとも5画像ライン/秒の速度で該フォーカスされた励起放射を走査する放射指向システム(radiation direction system)と、 該励起放射に応答して該基板の該表面からの発光を検出する検出器であって、該対物レンズが該発光を受けて該発光を該検出器に伝送する、検出器と、 該検出された発光の量を、該発光が発せられた該基板の該表面上の位置の関数として記録するデータ取得システム(data acquisition system)と、を備えた、システム。
IPC (2)：
G01N 21/64 ,  G02B 21/00
FI (3)：
G01N 21/64 F ,  G01N 21/64 E ,  G02B 21/00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 走査型光学顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-125150   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
  • レーザ顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-072503   Applicant：ソニー株式会社
  • 走査型光学測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-198356   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM