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J-GLOBAL ID：200903026773667424

プラント計装制御装置及びその方法

Inventor：
野村 真澄

About 野村 真澄

, 
林 宣宏

About 林 宣宏


Applicant, Patent owner：
三菱重工業株式会社

About 三菱重工業株式会社


Agent (4)： 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004301086
Publication number (International publication number)：2005338049
Application date： Oct. 15, 2004
Publication date： Dec. 08, 2005
Summary：
【課題】 通常運転中にプラント等の検出器の健全性を高精度に評価することができ、機器等の経年変化・性能劣化の評価を行なうことができるプラント計装制御装置を提供する。【解決手段】 第1のデータベース13-1〜13-nに格納する真値を推定するための各真値推定モデルを用い、プラント1に設けた複数の検出器から出力した各検出器信号の実測値に基づいて真値を推定する複数の真値推定手段12-1〜12-nを備える一方、各真値推定手段で推定した同一の検出器に対する推定真値を、第2のデータベース15に格納した個々の真値推定モデルの推定精度に関するデータを用いて総合評価する推定真値統合手段111と、系として整合性の取れる推定真値を算出する整合性向上手段112とを備えて、最も確からしい推定真値を求めて推定ドリフト量を算出する。【選択図】 図13
Claim (excerpt)：
被検出対象に設けた複数の検出器から出力した各検出器信号を入力する入力手段と、 真値を推定するための複数個の真値推定モデルをそれぞれ格納する複数個の第1の記憶手段と、 前記各真値推定モデルを用い、前記検出器信号の実測値に基づいて真値をそれぞれ推定する複数個の真値推定手段と、 個々の前記真値推定モデルの推定精度に関するデータを格納する第2の記憶手段と、 前記各真値推定手段で推定した同一の検出器に対する推定真値を、前記第2の記憶手段に格納した推定精度に関するデータを用いて総合評価するとともに、最も確からしい推定真値を求めて推定ドリフト量を算出する総合評価手段と、 前記推定真値や前記推定ドリフト量を出力する出力手段とを有することを特徴とするプラント計装制御装置。
IPC (3)：
G01D18/00 ,  G01M19/00 ,  G05B23/02
FI (4)：
G01D18/00 ,  G01M19/00 Z ,  G05B23/02 P ,  G21C17/00 X
F-Term (24)：
2F076AA06 ,  2F076AA07 ,  2G024AD33 ,  2G024BA18 ,  2G024BA27 ,  2G024CA16 ,  2G024CA17 ,  2G024EA01 ,  2G024EA02 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  2G075BA03 ,  2G075EA03 ,  2G075FB08 ,  2G075FB17 ,  2G075FB18 ,  2G075GA09 ,  5H223AA03 ,  5H223DD03 ,  5H223DD07 ,  5H223DD09 ,  5H223EE02 ,  5H223EE29 ,  5H223FF06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (3)

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