Pat
J-GLOBAL ID:200903027451857038
パターン形成方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999065749
Publication number (International publication number):2000227665
Application date: Mar. 12, 1999
Publication date: Aug. 15, 2000
Summary:
【要約】【課題】 パターン形成方法を提供する。【解決手段】 下記工程(1)絶縁被膜形成用樹脂層の表面に感エネルギー線被膜層を積層した後、(2)所望のパターンが得られるように活性エネルギー線や熱線をマスクを介して照射もしくは直接に照射させ、(3)感エネルギー線被膜層を現像処理して感エネルギー線被膜層によるレジストパターン被膜を形成し、(4)更に、所望のパターンが得られるように絶縁被膜形成用樹脂層を現像処理により除去する工程を含むことを特徴するパターン形成方法。
Claim (excerpt):
下記工程(1)絶縁被膜形成用樹脂層の表面に感エネルギー線被膜層を積層した後、(2)所望のパターンが得られるように活性エネルギー線や熱線をマスクを介して照射もしくは直接に照射させ、(3)感エネルギー線被膜層を現像処理して感エネルギー線被膜層によるレジストパターン被膜を形成し、(4)更に、所望のパターンが得られるように絶縁被膜形成用樹脂層を現像処理により除去する工程を含むことを特徴するパターン形成方法。
IPC (3):
G03F 7/40 521
, G03F 7/004 512
, H05K 3/00
FI (3):
G03F 7/40 521
, G03F 7/004 512
, H05K 3/00 G
F-Term (25):
2H025AA03
, 2H025AA20
, 2H025AB15
, 2H025AB17
, 2H025AC08
, 2H025AD01
, 2H025AD03
, 2H025BC85
, 2H025CB43
, 2H025CB48
, 2H025DA29
, 2H025DA40
, 2H025EA08
, 2H025FA10
, 2H025FA28
, 2H025FA29
, 2H096AA27
, 2H096BA01
, 2H096BA09
, 2H096CA05
, 2H096CA16
, 2H096EA04
, 2H096FA10
, 2H096HA01
, 2H096HA30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
-
特開昭47-041374
-
基板のパターニング法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-279981
Applicant:有限会社増山新技術研究所, シプレイ・ファーイースト株式会社
-
特開平1-260831
-
フォトビア形成用感光性エレメント
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-046033
Applicant:日立化成工業株式会社
-
難燃性フォトビア形成用感光性エレメント
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-250992
Applicant:日立化成工業株式会社
-
特開平4-147631
-
特開平3-138653
-
半導体集積回路装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-229084
Applicant:日本電気株式会社
-
半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-080111
Applicant:ソニー株式会社
-
感光性樹脂組成物及びこれを用いた感光性エレメント
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-025691
Applicant:日立化成工業株式会社
-
無機物質含有高感度感光性レジストおよび高感度ドライフィルムレジスト
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-005409
Applicant:凸版印刷株式会社
Show all
Return to Previous Page