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J-GLOBAL ID：200903028727419060

撮像装置

Inventor：
森 圭一

About 森 圭一

, 
吉田 英明

About 吉田 英明


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001233864
Publication number (International publication number)：2003046871
Application date： Aug. 01, 2001
Publication date： Feb. 14, 2003
Summary：
【要約】【課題】 カメラ使用状況において温度や露光時間、感度設定によって大きく変化する欠陥に対応して補正を行うことができ、且つ欠陥情報の記憶に必要なデータ量を少なくする。【解決手段】 画素欠陥補償機能を有した撮像装置において、撮像光学系を介して入力された被写体像を撮像する撮像素子105と、撮像素子105の画像欠陥アドレス及び該アドレスの画素欠陥レベルを対数化した数値である対数化欠陥レベルを欠陥データとして記憶する欠陥記憶メモリ118と、欠陥メモリ118に登録された欠陥データに基づいて当該撮影に関する欠陥補償の適用対象アドレスである補償アドレスを決定するアドレス決定部204と、撮像素子105の出力信号のうち決定された補償アドレスに該当する画素に対して近隣画素データによる欠陥補償処理を行う欠陥補償部205とを備えた。
Claim (excerpt)：
撮像光学系を介して入力された被写体像を撮像する撮像素子と、前記撮像素子の画素欠陥アドレス及び該アドレスの画素欠陥レベルを対数化した数値である対数化欠陥レベルを欠陥データとして記憶する欠陥記憶手段と、前記欠陥記憶手段に登録された欠陥データに基づいて当該撮影に関する欠陥補償の適用対象アドレスである補償アドレスを決定するアドレス決定手段と、前記撮像素子の出力信号の前記決定された補償アドレスに該当する画素に対して近隣画素データによる欠陥補償処理を行う欠陥補償手段と、を有したことを特徴とする撮像装置。
IPC (4)：
H04N 5/335 ,  G06T 1/00 460 ,  H04N 5/232 ,  H04N101:00
FI (4)：
H04N 5/335 P ,  G06T 1/00 460 E ,  H04N 5/232 Z ,  H04N101:00
F-Term (20)：
5B047AA07 ,  5B047AB02 ,  5B047BA03 ,  5B047BB04 ,  5B047CB03 ,  5B047CB05 ,  5B047DA06 ,  5B047DB01 ,  5B047DC01 ,  5B047DC11 ,  5C022AA13 ,  5C022AB00 ,  5C022AC69 ,  5C024BX01 ,  5C024CX24 ,  5C024EX11 ,  5C024EX15 ,  5C024GY01 ,  5C024HX14 ,  5C024HX59
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (11)
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