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J-GLOBAL ID：200903031695384155

表面形状測定装置及びその方法、表面形状測定プログラム、並びに表面状態図化装置

Inventor：
高地 伸夫

About 高地 伸夫

, 
大谷 仁志

About 大谷 仁志


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 宮川 貞二 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001234644
Publication number (International publication number)：2003042732
Application date： Aug. 02, 2001
Publication date： Feb. 13, 2003
Summary：
【要約】【課題】 遺跡埋蔵物や人体等の測定対象物の表面形状や模様を迅速に測定できる表面形状測定装置を提供すること。【解決手段】 測定対象物1と、測定対象物1の近傍に配置される校正用被写体11であって、あらかじめ立体的な相対位置関係が定められている基準点を有する校正用被写体11とを、複数の方向からステレオ撮影するステレオ撮影部3と、ステレオ撮影部3にてステレオ撮影された撮影画像データから校正用被写体11の基準点の像を抽出して、前記基準点の位置からステレオ撮影する方向毎の撮影パラメータを求める撮影パラメータ演算手段5と、撮影パラメータと、基準点の像が抽出された撮影画像データにおける測定対象物1の像位置から、測定対象物1の表面形状を求める表面形状測定手段6とを備えている。
Claim (excerpt)：
測定対象物と、当該測定対象物の近傍に配置される校正用被写体であって、あらかじめ立体的な相対位置関係が定められている基準点を有する前記校正用被写体とを、複数の方向からステレオ撮影するステレオ撮影部と;前記ステレオ撮影部にてステレオ撮影された撮影画像データから前記基準点の像を抽出して、前記基準点の位置からステレオ撮影する方向毎の撮影パラメータを求める手段と;前記撮影パラメータと、前記基準点の像が抽出された撮影画像データにおける前記測定対象物の像位置から、前記測定対象物の表面形状を求める手段とを備える;表面形状測定装置。
IPC (5)：
G01B 11/24 ,  G01B 11/245 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 300 ,  G06T 7/60 150
FI (5)：
G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 300 E ,  G06T 7/60 150 B ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 N
F-Term (39)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC11 ,  2F065CC16 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR03 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA13 ,  5B057BA19 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD01 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC06 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32 ,  5B057DC34 ,  5L096AA09 ,  5L096BA03 ,  5L096CA05 ,  5L096FA09 ,  5L096FA60 ,  5L096FA69 ,  5L096GA32 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (16)
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