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J-GLOBAL ID：200903033443475428

ツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶した記憶媒体

Inventor：
小島 徹

About 小島 徹


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 丸山 隆夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999044521
Publication number (International publication number)：2000241292
Application date： Feb. 23, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】 装置を大型化せずに、液晶セル特性の面内分布を測定することのできるツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置、測定方法及びプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。【解決手段】 本発明は、光源1と偏光子2と液晶セル3と検光子4と受光器5とにより光学素子が構成され、受光器5により測定された透過光強度を電流電圧変換回路8で電圧値として変換して電圧計9にて測定する。この測定された電圧値に基づいて偏光子2と検光子4とを駆動させるステッピングモータ11,12により回動を制御する。さらに、液晶セル3を光源1からの光に対して垂直平面内で移動させるステッピングモータ13を設け、その制御をPC10により行う。以上のように構成されたツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置は、液晶セルが大型化する近年において、光学素子を回転可能に構成することで測定装置自体を小型化することができると同時に、液晶セルの面内分布も測定することができる。
Claim (excerpt)：
少なくとも所定の波長の光を射出する光源と、前記光源により射出された光から所定の偏光を取り出す偏光子と、前記偏光子により取り出された前記所定の偏光を透過して旋光する液晶セルと、前記液晶セルの透過光を検光する検光子と、前記検光子により検光された前記透過光を受光して透過光強度を測定する受光器と、前記受光器により測定された前記透過光強度に基づいて前記液晶セルのツイスト角およびセルギャップの決定と該決定されたツイスト角および該セルギャップを用いて方位角アンカリングの演算を制御する制御部とを有し、前記偏光子と前記検光子とは、光軸を中心に回動および/または前記光軸に対して垂直な平面内で自由方向に移動可能に構成されることを特徴とするツイスト角、セルギャップ及び方位角アンカリング測定装置。
IPC (4)：
G01M 11/00 ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/21 ,  G02F 1/13 101
FI (4)：
G01M 11/00 T ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/21 Z ,  G02F 1/13 101
F-Term (36)：
2F065AA22 ,  2F065AA30 ,  2F065AA31 ,  2F065CC25 ,  2F065DD02 ,  2F065EE00 ,  2F065FF49 ,  2F065FF66 ,  2F065GG04 ,  2F065HH13 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL33 ,  2F065LL34 ,  2F065LL35 ,  2F065QQ23 ,  2G059AA02 ,  2G059BB20 ,  2G059EE05 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088HA15 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088JA05 ,  2H088JA13 ,  2H088MA20
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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