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J-GLOBAL ID:200903034255199460
物体の少なくとも1つの物理的パラメータのマイクロ波測定のための装置及び方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
野河 信太郎
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003500541
Publication number (International publication number):2005516181
Application date: May. 31, 2002
Publication date: Jun. 02, 2005
Summary:
物体の少なくとも1つの物理的パラメータ、例えば、水分及び塩分含有量を測定する方法及び装置が説明される。マイクロ波ビームに測定物体を通過させ、所定の偏光方向の送信波の反射のみを検出することにより実施される。これを達成するために、偏光板が用いられ、物体を通過する水平偏光のマイクロ波のみが検出され、周囲の構造からの垂直偏光反射が除外される。物体は、コンベアベルト上を移動していてもよく、静止していてもよい。
Claim (excerpt):
・時間依存の電気信号を生成するソース、
・物体に近接して配置され、時間依存の電気信号をマイクロ波に変換し、物体に向けてマ イクロ波を送信する送信器、
・物体に隣接し、送信器と反対側に配置され、送信波の偏光の少なくとも一部を回転させ 、所定の偏光方向の送信波を反射させる偏光子、
・所定の偏光方向の反射マイクロ波を受信し、それを電気信号に変換するために、偏光子 に対して物体の反対側に配置された受信器、
・物体の少なくとも1つの物理的パラメータを計算するために、電気信号を利用するコン ピュータシステムと
を備え、物体に向けてマイクロ波を送信し、反射マイクロ波を解析することにより物体の少なくとも1つの物理的パラメータを測定する装置。
IPC (2):
FI (6):
G01N22/00 R
, G01N22/00 S
, G01N22/00 U
, G01N22/00 W
, G01N22/00 Y
, G01N22/04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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光透過率測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-209327
Applicant:株式会社ニコン
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特開平3-225207
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特開昭63-024147
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表面状態検知システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-268775
Applicant:ヒューズ・エアクラフト・カンパニー
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光学素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-037183
Applicant:ソニー株式会社
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分散状態測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-357564
Applicant:三菱重工業株式会社
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マイクロ波を用いた厚み測定方法及び厚み測定用マイクロ波センサ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-202403
Applicant:コロラドステイトユニバーシティリサーチファウンデイション
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特開平3-225207
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特開昭63-024147
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特開昭55-129734
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特開昭55-147375
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