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J-GLOBAL ID：200903034375338251

三次元形状測定システム、三次元形状測定システムのデータ校正方法、及びデータ校正プログラム

Inventor：
福本 忠士

About 福本 忠士

, 
大崎 繁

About 大崎 繁

, 
有泉 昌弘

About 有泉 昌弘

, 
松長 紀雄

About 松長 紀雄


Applicant, Patent owner：
ミノルタ株式会社

About ミノルタ株式会社


Agent (1)： 吉田 茂明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001132306
Publication number (International publication number)：2002328013
Application date： Apr. 27, 2001
Publication date： Nov. 15, 2002
Summary：
【要約】【課題】 複数の方向から測定対象物を測定して得られる測定データのデータ校正を行う際に正確なデータ校正を行うこと。【解決手段】 測定空間に多面体構造の被測定部を有するデータ校正用対象物を設置し(ステップS100)、第1及び第2の三次元測定器のそれぞれで測定を行って多面体構造の一の頂点座標を求める(ステップS104,S108)。このとき、多面体構造の平面部を測定して平面部の交点となる頂点座標を求める。この頂点座標から測定データをワールド座標系に変換するための変換パラメータを求めることにより、高精度な測定結果に基づく高精度な変換パラメータを求めることができる。
Claim (excerpt)：
測定空間に設置される測定対象物に対して複数の投光手段からレーザ光を照射し、前記各投光手段からのレーザ光が前記測定対象物で反射する反射光を受光手段で検出することにより、前記測定対象物の三次元形状を測定する三次元形状測定システムであって、前記測定空間に多面体構造の被測定部を有する校正用対象物を設置した状態で、前記複数の投光手段のそれぞれによって前記被測定部を測定するように、前記複数の投光手段を制御する制御手段と、前記各投光手段による前記被測定部の測定結果から、前記測定対象物を測定した際に前記各投光手段で測定して得られる測定データを変換して前記測定対象物に関する三次元形状データを生成するための変換パラメータを求めるデータ処理手段と、を備えることを特徴とする三次元形状測定システム。
IPC (4)：
G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60 150
FI (4)：
G06T 1/00 315 ,  G06T 7/00 C ,  G06T 7/60 150 S ,  G01B 11/24 A
F-Term (35)：
2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG22 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL62 ,  2F065PP13 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ31 ,  2F065RR05 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CB13 ,  5B057CH01 ,  5B057CH11 ,  5B057CH14 ,  5B057DA13 ,  5B057DA17 ,  5B057DB02 ,  5L096AA09 ,  5L096CA14 ,  5L096CA17 ,  5L096DA02 ,  5L096FA12 ,  5L096FA64 ,  5L096HA01 ,  5L096MA00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (7)
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