Pat
J-GLOBAL ID:200903036060053111
無機膜およびその製造方法並びに半導体デバイス
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
柳田 征史
, 佐久間 剛
, 渋谷 淑子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008096030
Publication number (International publication number):2009252821
Application date: Apr. 02, 2008
Publication date: Oct. 29, 2009
Summary:
【課題】トランジスタ駆動に適した比抵抗をもつ良質な無機膜を提供する。【解決手段】一般式NaMbQcOd(式中NはZnまたはMg、MはTi、WまたはMo、QはInまたはFeであり、a,b,c,dは正の実数である)で表される無機膜を、Nの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Mの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、Qの酸化物、アルコキシドまたは有機金属化合物の少なくとも1つと、有機溶媒と、を含む原料液を基板上に塗布成膜し、加熱処理により製造する。【選択図】なし
Claim (excerpt):
一般式NaMbQcOd(式中NはZnまたはMg、MはTi、WまたはMo、QはInまたはFeであり、a,b,c,dは正の実数である)で表されることを特徴とする無機膜。
IPC (8):
H01L 29/24
, H01L 29/786
, H01L 21/336
, H01L 21/20
, C01G 23/00
, C01G 41/00
, C01G 39/00
, H01L 29/26
FI (8):
H01L29/24
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 627G
, H01L21/20
, C01G23/00 C
, C01G41/00 A
, C01G39/00 Z
, H01L29/26
F-Term (79):
4G047CA05
, 4G047CB06
, 4G047CC03
, 4G047CD02
, 4G048AA03
, 4G048AB02
, 4G048AC08
, 4G048AD02
, 4G048AE05
, 4G048AE08
, 5F110AA06
, 5F110AA09
, 5F110BB01
, 5F110CC07
, 5F110DD01
, 5F110DD02
, 5F110DD03
, 5F110DD04
, 5F110DD12
, 5F110DD13
, 5F110EE01
, 5F110EE02
, 5F110EE03
, 5F110EE04
, 5F110EE06
, 5F110EE07
, 5F110EE09
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF29
, 5F110GG04
, 5F110GG06
, 5F110GG13
, 5F110GG15
, 5F110GG24
, 5F110GG25
, 5F110GG28
, 5F110GG29
, 5F110GG42
, 5F110HK01
, 5F110HK02
, 5F110HK03
, 5F110HK04
, 5F110HK06
, 5F110HK07
, 5F110HK09
, 5F110HK14
, 5F110PP03
, 5F110PP31
, 5F152BB03
, 5F152CC02
, 5F152CC03
, 5F152CC04
, 5F152CC06
, 5F152CC09
, 5F152CD08
, 5F152CD09
, 5F152CD10
, 5F152CD13
, 5F152CD14
, 5F152CD15
, 5F152CD16
, 5F152CD17
, 5F152CD24
, 5F152CE01
, 5F152CE08
, 5F152CE18
, 5F152CE24
, 5F152DD06
, 5F152FF03
, 5F152FF06
, 5F152FF09
, 5F152FF43
, 5F152FF45
, 5F152FG01
, 5F152FG04
, 5F152FG18
Patent cited by the Patent:
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Article cited by the Patent:
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