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J-GLOBAL ID:200903036379406971
液中試料の分析方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小林 良平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007223212
Publication number (International publication number):2009058231
Application date: Aug. 29, 2007
Publication date: Mar. 19, 2009
Summary:
【課題】容易且つ確実に分析用液体の蒸発を防止することのできる液中試料の分析方法を提供する。【解決手段】カンチレバー14の先端に設けられた探針15を液中に浸漬した試料13の表面に近接させて該試料表面を走査し、試料13と探針15の間の相互作用を検出して画像化する走査型プローブ顕微鏡を用いて液中試料を観察するに際し、試料13及び探針15を浸漬した分析用液体16の周囲に分析用液体16と混和しない密閉用液体17を満たすことにより分析用液体16を外気と遮断された密閉状態とする。【選択図】図1
Claim (excerpt):
カンチレバーの先端に設けられた探針を液中に浸漬した試料の表面に近接させて該試料表面を走査し、該試料と探針の間の相互作用を検出して画像化する走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料の分析方法において、
前記試料及び探針を浸漬した分析用液体の周囲に該分析用液体と混和しない密閉用液体を満たすことにより前記分析用液体を外気と遮断された密閉状態とすることを特徴とする液中試料の分析方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N13/10 121H
, G01N13/16 101
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (9)
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走査型近視野原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-032396
Applicant:セイコー電子工業株式会社
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液体搬送デバイス及び分析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-156575
Applicant:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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試料分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-156950
Applicant:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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特定物質の細胞導入装置及びこれを用いた観察装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-243158
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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液中用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-325773
Applicant:エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
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原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-342494
Applicant:オリンパス株式会社
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液中観察機能付き走査型近視野原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-237730
Applicant:セイコー電子工業株式会社
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精密鋳造鋳型造型用ワックス洗浄液剤の蒸発防止方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-178184
Applicant:大同特殊鋼株式会社
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走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-093533
Applicant:トヨタ自動車株式会社
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