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J-GLOBAL ID:200903041851160209
走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
石田 敬 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001093533
Publication number (International publication number):2002286614
Application date: Mar. 28, 2001
Publication date: Oct. 03, 2002
Summary:
【要約】【課題】 走査型プローブ顕微鏡を用いる液中試料観察方法において、安定な画像を得る。【解決手段】 先端にプローブを配置したカンチレバーと、光源と、検知器とを備えた走査型プローブ顕微鏡を用い、液中の試料にプローブを接近させ、プローブと試料の間の相互作用に基づいて試料表面の表面画像を得て試料を観察する方法において、前記試料が浸されている液体の表面にこの液体の揮発を防止する手段を施しておく、又は前記試料が浸されている液体の表面上にこの液体と混和しない絶縁性液体の層を設け、前記プローブの先端部のみを前記試料が浸されている液体に入れ、前記プローブの他の部位を前記絶縁性の液体で覆う、又は光源からの光を、前記試料が浸されている液体と大気との界面を通過させることなく、前記液体中で前記カンチレバーにあて、かつ反射光を液体中で補足する。
Claim (excerpt):
先端にプローブを配置したカンチレバーと、このカンチレバーに光を当てる光源と、カンチレバーからの反射光を検知する検知器とを備えた走査型プローブ顕微鏡を用い、液中の試料にプローブを接近させて対向配置し、プローブと試料の間の相対位置を変化させ、プローブと試料の間の相互作用に基づいて試料表面の表面画像を得て試料を観察する方法において、前記試料が浸されている液体の表面にこの液体の揮発を防止する手段を施しておくことを特徴とする、液中試料観察方法。
IPC (6):
G01N 13/10
, G01B 7/34
, G01B 21/30
, G01N 13/12
, G01N 13/16
, G12B 21/08
FI (6):
G01N 13/10 D
, G01B 7/34 Z
, G01B 21/30
, G01N 13/12 A
, G01N 13/16 A
, G12B 1/00 601 D
F-Term (18):
2F063AA43
, 2F063DA01
, 2F063DA05
, 2F063EA16
, 2F063EB01
, 2F063EB23
, 2F063FA07
, 2F063PA05
, 2F069AA57
, 2F069AA60
, 2F069BB40
, 2F069GG07
, 2F069GG62
, 2F069HH04
, 2F069HH30
, 2F069KK05
, 2F069LL03
, 2F069MM34
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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試料測定用プローブ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-176208
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
液浸走査型プローブ顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-277924
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
液中静電力検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-201138
Applicant:株式会社東芝
-
一体化された光学系およびカンチレバーマウントを備える走査力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-041582
Applicant:トポメトリックス
-
走査力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-046345
Applicant:トポメトリックス
-
走査型プローブ顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-333054
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-159684
Applicant:株式会社ニコン
-
試料測定用プローブ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-176210
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
液中観察機能付き走査型近視野原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-237730
Applicant:セイコー電子工業株式会社
-
原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-079006
Applicant:日本電子株式会社
-
走査プローブ顕微鏡および走査プローブ顕微鏡用カン チレバ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-225553
Applicant:日本電子株式会社
-
調査/操作装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-015362
Applicant:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
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流体中で使用される走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-524378
Applicant:モレキュラー・イメージング・コーポレーション
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原子間力顕微鏡内の交流検出用力センサを磁気変調させる方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平8-527659
Applicant:モレキュラー・イメージング・コーポレーション
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