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J-GLOBAL ID：200903039613350526

非破壊検査装置及び非破壊検査方法

Inventor：
永島 良昭

About 永島 良昭

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遠藤 正男

About 遠藤 正男

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甲賀 勇雄

About 甲賀 勇雄

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三木 将裕

About 三木 将裕


Applicant, Patent owner：
株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス

About 株式会社日立エンジニアリング・アンド・サービス


Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007283118
Publication number (International publication number)：2009109390
Application date： Oct. 31, 2007
Publication date： May. 21, 2009
Summary：
【課題】円筒部材の口径に依存することなく欠陥の測定ができる非破壊検査装置を提供する。【解決手段】ガイド波で円筒部材の欠陥を検査する非破壊検査装置において、探触子1a〜1dを配管の周方向の一部に配置間隔Dcで配列して形成された第1探触子列1と、探触子2a〜2dを配管の周方向の一部に配置間隔Dcで配列して形成され、第1探触子列から配置間隔Daを介して設けられた第2探触子列2とを有するガイド波センサ3と、第1探触子列と第2探触子列からガイド波が送信される時刻が遅延時間Tdだけずれるように、第1探触子列と第2探触子列に送信信号を印加するガイド波送受信部4と、ガイド波センサ3からの受信信号を処理して検査情報を生成する信号処理部6bと、信号処理部からの検査情報を表示する表示部7を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
ガイド波で円筒部材の欠陥を検査する非破壊検査装置において、 前記円筒部材の周方向に伝搬するガイド波のうち波長の最も短いガイド波の波長未満の間隔で複数の超音波探触子を前記円筒部材の周方向の一部に配列して形成された第1超音波探触子列と、前記波長の最も短いガイド波の波長未満の間隔で複数の超音波探触子を前記円筒部材の周方向の一部に配列して形成され、前記第1超音波探触子列から前記円筒部材の軸方向に間隔を介して設けられた第2超音波探触子列とを有するガイド波センサと、 前記第1超音波探触子列と前記第2超音波探触子列からガイド波が送信される時刻が前記円筒部材の軸方向における前記第1超音波探触子列と前記第2超音波探触子列の距離をガイド波が伝搬するために要する時間だけずれるように、前記第1超音波探触子列と前記第2超音波探触子列に送信信号を印加するガイド波送信部と、 前記ガイド波センサからの受信信号を処理して検査情報を生成する信号処理部と、 この信号処理部からの検査情報を表示する表示部とを備えることを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (1)：
G01N 29/04
FI (1)：
G01N29/10 502
F-Term (15)：
2G047AA07 ,  2G047AB01 ,  2G047AC01 ,  2G047BA03 ,  2G047BC11 ,  2G047CA01 ,  2G047CB02 ,  2G047EA04 ,  2G047GA03 ,  2G047GB02 ,  2G047GB18 ,  2G047GF10 ,  2G047GF22 ,  2G047GG28 ,  2G047GH04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (14)
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Cited by examiner (24)
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