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J-GLOBAL ID:200903041139329965
半導体への不純物ドーピング方法及びそれによって製造される半導体基板
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
清水 守
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001003151
Publication number (International publication number):2002208568
Application date: Jan. 11, 2001
Publication date: Jul. 26, 2002
Summary:
【要約】【課題】 不純物を半導体へ容易にドーピングすることができる半導体への不純物ドーピング方法及びそれによって製造される半導体基板を提供する。【解決手段】 負のミュオン・パイオン素粒子をGaN基板4へ照射することによって不純物を半導体へドーピングし、P型化することができる。
Claim (excerpt):
負のミュオン・パイオン素粒子を半導体へ照射することによって、不純物を前記半導体へドーピングすることを特徴とする半導体への不純物ドーピング方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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炭化ケイ素への不純物ドーピング方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-273445
Applicant:工業技術院長, 株式会社イオン工学研究所
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特開平4-168722
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半導体への不純物ドーピング方法及び半導体装置製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-135562
Applicant:ソニー株式会社
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核融合を利用した放射性廃棄物の消滅処理方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-029210
Applicant:動力炉・核燃料開発事業団
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電気活性点を有する炭素の製造方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-537223
Applicant:セルスチョップジャックピエールフリードリッヒ
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薄膜及びそれを用いた装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-245111
Applicant:科学技術振興事業団
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