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J-GLOBAL ID：200903047780759161

電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路

Inventor： 橋爪 正樹 ,  一宮 正博 ,  四柳 浩之
Applicant, Patent owner： 国立大学法人徳島大学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006309430
Publication number (International publication number)：2008122338
Application date： Nov. 15, 2006
Publication date： May. 29, 2008
Summary：

【課題】本発明はIC、回路モジュール間の配線をより容易に検査できる電子回路の検査法と検査容易化回路を提供することを目的とする。【解決手段】本発明での検査容易化回路はIC、回路ブロックを組み合わせて作製する電子回路でIC間、回路ブロック間の配線の検査を容易とするものである。その検査容易化回路は検査時にその配線に静的電流を流すことができるようにするもので、その配線に流した電流に現れる異常で配線を検査しようとするものである。その検査容易化回路を回路に組み込むことで、従来では発見が困難な配線故障の発見が確実に行えるようになるし、故障発生箇所の特定も行えるという特長を持っている。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

ICを組み合わせて作製する電子回路に発生する配線故障の存在の発見、故障発生箇所の特定、発生故障の種類の特定をする検査法とその検査を容易とする検査容易化回路。

IPC (3)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (2)：

G01R31/28 G ,  H01L27/04 T

F-Term (23)：

2G132AA14 ,  2G132AA15 ,  2G132AA20 ,  2G132AC15 ,  2G132AD01 ,  2G132AD15 ,  2G132AK22 ,  2G132AL09 ,  2G132AL12 ,  5F038BE09 ,  5F038BH02 ,  5F038BH04 ,  5F038BH13 ,  5F038CA10 ,  5F038DF01 ,  5F038DF12 ,  5F038DT02 ,  5F038DT04 ,  5F038DT06 ,  5F038DT12 ,  5F038DT16 ,  5F038EZ07 ,  5F038EZ20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 電子回路の試験方法及び試験装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-249110   Applicant：富士通株式会社

Cited by examiner (5)

• マルチチップモジュール
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-182022   Applicant：株式会社ルネサステクノロジ
• ショート検出端子付き半導体集積回路、実装基板、及びショート検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-026265   Applicant：株式会社日立製作所, 日立コンピュータエンジニアリング株式会社
• ICモジュール
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-107524   Applicant：カシオ計算機株式会社
• 電子回路の試験方法及び試験装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-249110   Applicant：富士通株式会社
• IC接続試験方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-347501   Applicant：日本電気エンジニアリング株式会社