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J-GLOBAL ID:200903048625067381
近接補正方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
坂口 博 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000160870
Publication number (International publication number):2001013670
Application date: May. 30, 2000
Publication date: Jan. 19, 2001
Summary:
【要約】【課題】 所与のチップ・レイアウト設計に関するパターン形成プロセスの近接補正の効率を高める方法および構成を提供すること。【解決手段】 この方法は、少なくとも1つのレイアウト・パラメータに応じてパターン形成プロセスを記述するステップと、前記少なくとも1つのパラメータの分布を離散化するステップと、レイアウト修正を前記少なくとも1つのパラメータに連係させる誤差補正テーブルを提供するステップと、前記テーブル内の前記修正を前記レイアウトに少なくとも1回適用することによってレイアウトを補正するステップとを含む。
Claim (excerpt):
所与のチップ・レイアウト設計に関するパターン形成プロセスの近接補正方法であって、少なくとも1つのレイアウト・パラメータに応じてパターン形成プロセスを記述するステップと、前記少なくとも1つのパラメータの分布を離散化するステップと、レイアウト修正を前記少なくとも1つのパラメータに連係させる誤差補正テーブルを提供するステップと、前記テーブル内の前記修正を前記レイアウトに少なくとも1回適用することによってレイアウトを補正するステップとを含む方法。
IPC (3):
G03F 1/08
, G06F 17/50 658
, H01L 21/027
FI (3):
G03F 1/08 A
, G06F 17/50 658 M
, H01L 21/30 502 P
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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