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J-GLOBAL ID:200903049034387197

遅延干渉計を微調整するための自動フィードバック制御方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 伊東 忠彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004248788
Publication number (International publication number):2005080304
Application date: Aug. 27, 2004
Publication date: Mar. 24, 2005
Summary:
【課題】強度変調DPSKシステムにおいて、遅延干渉計を調整する手法を提供する。【解決手段】光信号の受信において、入射信号を第1の部分と第2の部分とに分割する。第1の部分と第2の部分との間で相対的遅延を引き起こし、少なくとも1つの干渉信号を生成するために光学的に干渉させる。相対的遅延を品質基準に基づき調整できるように、少なくとも1つの干渉信号に基づき、受信信号の品質基準をモニターする。モニター結果に基づき相対的遅延を調整する。【選択図】図3
Claim (excerpt):
光信号を受信する方法であって、 入射信号を第1の部分と第2の部分とに分けるステップと、 前記第1の部分と前記第2の部分の間の相対的遅延を導くステップと、 少なくとも1つの干渉信号を生成するため、前記第1の部分と前記第2の部分とを光学的に干渉させるステップと、 前記少なくとも1つの干渉信号に少なくとも基づき、モニターされた信号のビットエラーレート(BER)推定をモニターするステップと、 前記BER推定に基づき前記相対的遅延を調整するステップとを有する方法。
IPC (5):
H04B10/04 ,  H04B10/00 ,  H04B10/06 ,  H04B10/142 ,  H04B10/152
FI (2):
H04B9/00 L ,  H04B9/00 B
F-Term (21):
5K102AA63 ,  5K102AB01 ,  5K102AB04 ,  5K102AD01 ,  5K102AH23 ,  5K102AH27 ,  5K102MA02 ,  5K102MC06 ,  5K102MD01 ,  5K102MD03 ,  5K102MH03 ,  5K102MH14 ,  5K102MH22 ,  5K102MH32 ,  5K102PA12 ,  5K102PH11 ,  5K102PH21 ,  5K102PH22 ,  5K102PH47 ,  5K102PH48 ,  5K102RD04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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