X線ステレオ透視装置及びそれを用いたステレオ観察方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：榎本一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005123093
Publication number (International publication number)：2006220640
Application date： Apr. 21, 2005
Publication date： Aug. 24, 2006
Summary：

【課題】X線を用いることにより被検体の寸法や形状によらず内部構造の観察や内部欠陥等を検出することができ、被検体を回転させる簡素な構造で装置を小型化することができる汎用性、取扱い性に優れるX線ステレオ透視装置の提供。【解決手段】X線源と、被検体を回動自在に保持する角度設定機構と、被検体を挟んでX線源に対向配置され被検体の透過画像を検出する平面状のイメージセンサと、イメージセンサで検出した透過画像をステレオ表示する表示器と、を備えている。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

X線源と、被検体を回動自在に保持する角度設定機構と、前記被検体を挟んで前記X線源に対向配置され前記被検体の透過画像を検出する平面状のイメージセンサと、前記イメージセンサで検出した前記透過画像をステレオ表示する表示器と、を有することを特徴とするX線ステレオ透視装置。

IPC (1)：

G01N 23/04

FI (1)：

G01N23/04

F-Term (11)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA09 , 2G001GA06 , 2G001GA13 , 2G001HA09 , 2G001HA13 , 2G001HA20 , 2G001KA03 , 2G001PA12

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

ディジタルX線撮影装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-163535 Applicant：株式会社島津製作所
透過型電子顕微鏡による観察方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-275641 Applicant：株式会社半導体先端テクノロジーズ, 株式会社日産アーク

Cited by examiner (8)

特開平1-161229
放射線画像撮影装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-265972 Applicant：キヤノン株式会社
放射線画像撮影装置およびステレオ撮影装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-243912 Applicant：キヤノン株式会社

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