Pat
J-GLOBAL ID:200903055770387226
薄膜処理方法及び薄膜処理装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
後藤 洋介 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000136646
Publication number (International publication number):2001319891
Application date: May. 10, 2000
Publication date: Nov. 16, 2001
Summary:
【要約】【課題】 トラップ準位密度の小さいシリコン薄膜を光照射によって形成する。【解決手段】 薄膜に光ビームを照射することにより薄膜を処理する薄膜処理方法において、光ビームの一照射単位が、第1及び第2の光パルスの薄膜への照射から構成され、一照射単位の照射を繰り返し行うことにより薄膜を処理するものであり、第1及び第2の光パルスは互いに異なるパルス波形を有する。好ましくは、光ビームの一照射単位が、第1の光パルスの薄膜への照射と、第1の光パルスの薄膜への照射の開始と実質的に同時に開始される、第2の光パルスの薄膜への照射とから構成される。この場合、第1及び第2の光パルスは、(前記第1の光パルスのパルス幅)<(前記第2の光パルスのパルス幅)及び(前記第1の光パルスの照射強度)≧(前記第2の光パルスの照射強度)を満たす。
Claim (excerpt):
薄膜に光ビームを照射することにより前記薄膜を処理する薄膜処理方法において、前記光ビームの一照射単位が、第1及び第2の光パルスの前記薄膜への照射から構成され、上記一照射単位の照射を繰り返し行うことにより前記薄膜を処理するものであり、前記第1及び前記第2の光パルスは互いに異なるパルス波形を有することを特徴とする薄膜処理方法。
IPC (5):
H01L 21/268
, H01L 21/20
, H01L 21/208
, H01L 29/786
, H01L 21/336
FI (5):
H01L 21/268 J
, H01L 21/268 G
, H01L 21/20
, H01L 21/208 Z
, H01L 29/78 627 G
F-Term (60):
5F052AA02
, 5F052BA11
, 5F052BA12
, 5F052BA15
, 5F052BB02
, 5F052BB06
, 5F052BB07
, 5F052DA01
, 5F052DB02
, 5F052JA01
, 5F053AA16
, 5F053AA50
, 5F053BB58
, 5F053BB60
, 5F053DD01
, 5F053FF01
, 5F053GG02
, 5F053HH05
, 5F053JJ01
, 5F053LL10
, 5F053RR03
, 5F053RR20
, 5F110AA30
, 5F110BB01
, 5F110BB04
, 5F110CC02
, 5F110DD02
, 5F110DD13
, 5F110EE05
, 5F110EE09
, 5F110EE14
, 5F110EE45
, 5F110FF02
, 5F110FF09
, 5F110FF29
, 5F110FF30
, 5F110FF32
, 5F110FF36
, 5F110GG02
, 5F110GG13
, 5F110GG25
, 5F110GG45
, 5F110GG47
, 5F110HJ12
, 5F110HJ13
, 5F110HJ18
, 5F110HL02
, 5F110HL03
, 5F110HL04
, 5F110HL06
, 5F110NN23
, 5F110NN27
, 5F110NN35
, 5F110NN36
, 5F110PP03
, 5F110PP04
, 5F110PP05
, 5F110PP07
, 5F110PP13
, 5F110QQ11
Patent cited by the Patent: