Pat
J-GLOBAL ID:200903057488120392
ライン照明装置及びライン照明装置を用いた検査装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
村上 友一
, 大久保 操
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002360313
Publication number (International publication number):2004191214
Application date: Dec. 12, 2002
Publication date: Jul. 08, 2004
Summary:
【課題】発光ダイオードの半導体チップを被う透明樹脂により凸レンズが形成された発光ダイオードを用いてライン照明装置を提供する。【解決手段】被検査物18にライン状の光を照射するライン照明装置であって、光源10を複数のレンズ付きの発光ダイオード12により構成するとともに、前記複数の発光ダイオード12の光軸が同一平面上で一つの円弧の半径線に沿うように配列されて前記平面上の一点に向けて配置され、前記光源10の前面位置には各発光ダイオード12の照射領域が前記平面上で直線上に配列する被検査物18の位置に焦点を合わせるシリンドリカルレンズ16を配置したことを特徴とするライン照明装置。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検査物にライン状の光を照射するライン照明装置であって、光源を複数のレンズ付き発光ダイオードにより構成するとともに、前記複数の発光ダイオードの光軸が同一平面上で一つの円弧の半径線に沿うように配列されて前記平面上の一点に向けて配置され、前記光源の前面位置には各発光ダイオードの照射領域が前記平面上で直線上に配列する被検査物位置に焦点を合わせるシリンドリカルレンズを配置したことを特徴とするライン照明装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N21/84 E
, G01B11/30 A
F-Term (23):
2F065AA49
, 2F065BB02
, 2F065CC01
, 2F065CC25
, 2F065EE03
, 2F065EE08
, 2F065FF41
, 2F065GG07
, 2F065GG16
, 2F065HH05
, 2F065HH12
, 2F065HH14
, 2F065JJ02
, 2F065JJ08
, 2F065JJ25
, 2F065LL08
, 2G051AA56
, 2G051AA65
, 2G051AB02
, 2G051BA02
, 2G051BA20
, 2G051BB02
, 2G051BB09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
-
パターン検査装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-168273
Applicant:富士通株式会社
-
欠陥検査方法とその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-071720
Applicant:松下電器産業株式会社
-
非接触伸び計の照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-013004
Applicant:日本たばこ産業株式会社
-
検査用照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-352453
Applicant:シーシーエス株式会社
-
LEDを用いた製品検査用ライン照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-025963
Applicant:シーシーエス株式会社
-
照明装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-184719
Applicant:シーシーエス株式会社
-
ラインセンサカメラ用の照明装置および照明方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-262185
Applicant:松下電器産業株式会社
Show all
Return to Previous Page