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J-GLOBAL ID:200903057888280224
走査型近接場光学顕微鏡
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
篠原 泰司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997101841
Publication number (International publication number):1998293133
Application date: Apr. 18, 1997
Publication date: Nov. 04, 1998
Summary:
【要約】【課題】複数のプローブを、切換機構によって、走査可能状態に択一的に切り換えることを可能にし走査型近接場光学顕微鏡を提供すること。【解決手段】プローブ5の先端は、試料1に所定の間隔を空けて配置され、試料ステージ2が走査用スキャナ4によって動かされることにより、試料1の走査が可能になっている。光源3から照射され、試料1を透過した光は、試料1の表面近傍でプローブ5に取り込まれ、集光光学系6,ピンホール7を介して光検出器8で検出され、コンピュータ10で信号処理された後、走査型近接場光学顕微鏡像としてモニタ11に画像化されるようになっている。切換機構15のスライド部材15bには、複数のプローブ5が、夫々のアタッチメント16を介して取り付けられ、スライド部材15bがコントローラ9を介して動かされると、所定のプローブ5が走査可能状態に切り換えられるようになっている。
Claim (excerpt):
プローブと試料とを近接して配置し、それらを試料の表面に対して略平行な方向に相対的に移動させることによって試料の表面の近傍を走査し、該プローブを介して得た光を検出器で検出することによって試料の光学特性を測定するようにした走査型近接場光学顕微鏡において、複数のプローブを同時にセットすることのできる切換機構が備えられていて、該切換機構は、それらのプローブを、走査可能状態に、択一的に切り換えて配置させることが可能であるようにしたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡。
IPC (2):
FI (3):
G01N 37/00 D
, G01N 37/00 E
, G01B 11/30 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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プローブ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-018225
Applicant:日立建機株式会社
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光記録装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-241438
Applicant:セイコー電子工業株式会社
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走査プローブ顕微鏡のマルチプローブヘッド
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-347984
Applicant:松下電器産業株式会社
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走査型顕微鏡用プローブ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-323161
Applicant:株式会社ニコン
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走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーチップ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-172606
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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マルチプローブヘッド
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-173331
Applicant:キヤノン株式会社
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走査型光学顕微装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-286046
Applicant:有限会社千里応用計測研究所
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原子間力顕微鏡一体型フォトン走査型トンネル顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-312547
Applicant:株式会社ニコン
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顕微鏡および屈折率測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-162380
Applicant:株式会社ニコン
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