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J-GLOBAL ID：200903058727023090

蛍光測定装置

Inventor：
大瀧 達朗

About 大瀧 達朗


Applicant, Patent owner：
株式会社ニコン

About 株式会社ニコン


Agent (1)： 古谷 史旺
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000196179
Publication number (International publication number)：2002014044
Application date： Jun. 29, 2000
Publication date： Jan. 18, 2002
Summary：
【要約】【課題】 複数のウエルを任意の深さで横切る仮想面(ウエルプレートの下面に平行な面)においても均一な照明状態が得られ、また、サンプルの退色現象を回避することもできる蛍光測定装置を提供すること。【解決手段】 複数のウエル(W1...W6...)の中に注入された測定対象物から発生する蛍光を測定する蛍光測定装置において、複数のウエルの中の測定対象物を一括で照明する照明光学系(3,12〜14)と、照明光学系によって照明された測定対象物からの蛍光を集光して縮小像を形成する結像光学系(12〜15)と、結像光学系によって形成された縮小像を光電的に検出する光電検出手段(4)とを備える。さらに、照明光学系は、ウエルの深さ方向に平行な平行光を用いて測定対象物をテレセントリック照明する光学系である。
Claim (excerpt)：
複数のウエルの中に注入された測定対象物から発生する蛍光を測定する蛍光測定装置において、前記複数のウエルの中の前記測定対象物を一括で照明する照明光学系と、前記照明光学系によって照明された前記測定対象物からの蛍光を集光して縮小像を形成する結像光学系と、前記結像光学系によって形成された前記縮小像を光電的に検出する光電検出手段とを備え、前記照明光学系は、前記ウエルの深さ方向に平行な平行光を用いて前記測定対象物をテレセントリック照明することを特徴とした蛍光測定装置。
IPC (2)：
G01N 21/64 ,  G01N 21/03
FI (2)：
G01N 21/64 Z ,  G01N 21/03 Z
F-Term (23)：
2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GB01 ,  2G043GB03 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043HA11 ,  2G043JA03 ,  2G043LA01 ,  2G043MA16 ,  2G057AA04 ,  2G057AB06 ,  2G057BA01 ,  2G057BD06 ,  2G057DB01 ,  2G057DB02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (13)
  • 特開昭62-046236
  • 蛍光測光装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-040901   Applicant：株式会社ニコン
  • 微分干渉顕微鏡
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-137595   Applicant：株式会社ニコン
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