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J-GLOBAL ID：200903059895975044

光ファイバによる構造物の診断方法及びシステム

Inventor：
今井 道男

About 今井 道男

, 
三浦 悟

About 三浦 悟

, 
宮本 裕司

About 宮本 裕司

, 
酒向 裕司

About 酒向 裕司


Applicant, Patent owner：
鹿島建設株式会社

About 鹿島建設株式会社


Agent (2)： 市東 篤 ,  市東 禮次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004071756
Publication number (International publication number)：2005257570
Application date： Mar. 12, 2004
Publication date： Sep. 22, 2005
Summary：
【課題】光ファイバにより歪み履歴の連続監視部位を更新しながら構造物を診断する方法及びシステムを提供する。 【解決手段】歪みと応力との関係3101及び歪みの繰り返しと疲労劣化との関係3102が既知の構造物の診断対象部材上に沿って光ファイバ7、8を取り付け、対象部材の全体の初期歪み3201を光ファイバ7、8により計測する。光ファイバ7、8により対象部材上の特定部位の歪み履歴3401を連続的に監視し、初期歪み3201及び歪み履歴3401と関係3101、3102とから特定部位の健全度を診断し、光ファイバ7、8により対象部材の全体の歪み分布3701を間欠的に計測し、初期歪み3201及び歪み分布3701と関係3101、3102とから部材全体の健全度を診断すると共にその診断結果に基づき対象部材上の連続監視部位を更新する。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
歪みと応力との関係及び歪みの繰り返しと疲労劣化との関係が既知の構造物の診断対象部材上に沿って光ファイバを取り付け、対象部材全体の初期歪みを光ファイバにより計測し、光ファイバにより対象部材上の特定部位の歪み履歴を連続的に監視し、初期歪み及び歪み履歴と前記関係とから特定部位の健全度を診断し、光ファイバにより対象部材全体の歪み分布を間欠的に計測し、初期歪み及び歪み分布と前記関係とから部材全体の健全度を診断すると共にその診断結果に基づき対象部材上の連続監視部位を更新してなる光ファイバによる構造物の診断方法。
IPC (4)：
G01M19/00 ,  G01B11/16 ,  G01L1/24 ,  G01M11/00
FI (4)：
G01M19/00 ,  G01B11/16 Z ,  G01L1/24 A ,  G01M11/00 U
F-Term (26)：
2D055LA13 ,  2D055LA16 ,  2D055LA17 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065BB12 ,  2F065CC14 ,  2F065CC23 ,  2F065CC40 ,  2F065DD06 ,  2F065FF41 ,  2F065FF49 ,  2F065GG25 ,  2F065LL02 ,  2F065QQ16 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ44 ,  2F065SS04 ,  2F065UU03 ,  2G024AD34 ,  2G024BA24 ,  2G024CA21 ,  2G024DA22 ,  2G024FA03 ,  2G086DD02 ,  2G086DD05
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (9)
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