Pat
J-GLOBAL ID:200903062482290800

研磨用組成物および研磨方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 一雄 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997244331
Publication number (International publication number):1999080707
Application date: Sep. 09, 1997
Publication date: Mar. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 研磨速度が大きく、均一性が優れた研磨面を形成させることができる研磨用組成物、および生産性の高い半導体ウェーハの研磨方法の提供。【解決手段】 (1)水、(2)研磨材、(3)炭酸イオン、炭酸水素イオン、および炭酸からなる群より選ばれる少なくとも1種類、ならびに(4)アンモニウムイオン、アルカリ金属イオン、およびアルカリ土類金属イオンそれぞれからなる群から選ばれる、少なくとも1種類の陽イオン、を含んでなる研磨用組成物であって、(4)の陽イオンの総量が0.001〜0.15モル/リットルであることを特徴とする研磨用組成物、およびその研磨用組成物を用いた半導体ウェーハの研磨方法。
Claim (excerpt):
(1)水、(2)研磨材、(3)炭酸イオン、炭酸水素イオン、および炭酸からなる群より選ばれる少なくとも1種類、ならびに(4)アンモニウムイオン、アルカリ金属イオン、およびアルカリ土類金属イオンそれぞれからなる群から選ばれる、少なくとも1種類の陽イオン、を含んでなる研磨用組成物であって、(4)の陽イオンの総量が0.001〜0.15モル/リットルであることを特徴とする研磨用組成物。
IPC (5):
C09K 3/14 550 ,  C09K 3/14 ,  B24B 37/00 ,  H01L 21/304 622 ,  G11B 5/84
FI (5):
C09K 3/14 550 D ,  C09K 3/14 550 Z ,  B24B 37/00 H ,  H01L 21/304 622 C ,  G11B 5/84 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
  • 特開昭52-069558
  • 特開平2-158684
  • 特開平3-202269
Show all

Return to Previous Page