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J-GLOBAL ID:200903063604400071

X線マスクおよびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 深見 久郎 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998193225
Publication number (International publication number):2000031008
Application date: Jul. 08, 1998
Publication date: Jan. 28, 2000
Summary:
【要約】【課題】 高い位置精度を有する転写用回路パターンを備え、簡略化した製造工程で製造することが可能なX線マスクおよびその製造方法を提供する。【解決手段】 支持部材1と、支持部材1上に形成されたX線吸収体3とを備えるX線マスクの製造方法であって、X線吸収体3上にマスク層4を形成する。支持部材1に位置基準マーク8を含む位置検出部材31を固定する。位置基準マーク8をマスク層4の位置検出に用いながら、マスク層4にマスクパターンを描画する。
Claim (excerpt):
支持部材と、前記支持部材上に形成されたX線吸収体とを備えるX線マスクの製造方法であって、前記X線吸収体上にマスク層を形成する工程と、前記支持部材に、位置基準マークを含む位置検出部材を固定する工程と、前記位置基準マークを前記マスク層の位置検出に用いながら、前記マスク層にマスクパターンを描画する工程とを備える、X線マスクの製造方法。
IPC (2):
H01L 21/027 ,  G03F 1/16
FI (3):
H01L 21/30 531 M ,  G03F 1/16 A ,  H01L 21/30 531 J
F-Term (14):
2H095BA10 ,  2H095BC08 ,  2H095BC28 ,  2H095BC30 ,  2H095BE03 ,  2H095BE08 ,  2H095BE09 ,  2H095BE10 ,  5F046GD04 ,  5F046GD12 ,  5F046GD15 ,  5F046GD17 ,  5F046GD19 ,  5F046GD20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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