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J-GLOBAL ID:200903064145382630
レーザ超音波検査装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
猪股 祥晃 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001386919
Publication number (International publication number):2003185639
Application date: Dec. 20, 2001
Publication date: Jul. 03, 2003
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】被検査体内の目的とする深さのき裂等の検出対象に対し、探傷、その深さ計測および分布計測等を効率的かつ高精度に行うことのできるレーザ超音波検査装置を提供する。【解決手段】パルスレーザ光線を出射するパルス光源2と、このパルス光源2を被検査体1に照射して被検査体11内に超音波を発生させるパルス光線照射手段4と、検出光線を出射する検出光源6と、この検出光線を被検査体1に照射して、被検査体内1の検出対象によって変調された超音波の情報を有する反射光線を受光する送受光手段8と、この受光された反射光線から超音波の情報を光学的に抽出する光学的抽出手段9と、この抽出された超音波の光学的な情報を電気信号に変換する光電変換手段10と、この光電変換手段10が出力する電気信号から前記検出対象に関する信号の抽出と分析を行う信号処理手段11とを備えた構成とする。
Claim (excerpt):
パルスレーザ光線を出射するパルス光源と、このパルス光源から出射されたパルスレーザ光線を伝送するパルス光線伝送手段と、このパルス光線伝送手段によって伝送されたパルスレーザ光線を被検査体に照射して被検査体内に超音波を発生させるパルス光線照射手段と、検出光線を出射する検出光源と、この検出光源から出射された検出光線を伝送する検出光線伝送手段と、この検出光線伝送手段によって伝送された検出光線を被検査体に照射して被検査体内の検出対象によって変調された超音波の情報を有する反射光線を受光する送受光手段と、この送受光手段によって受光され前記検出光線伝送手段によって伝送された反射光線から前記検出対象によって変調された超音波の情報を光学的に抽出する光学的抽出手段と、この光学的抽出手段によって抽出された超音波の光学的な情報を電気信号に変換する光電変換手段と、この光電変換手段が出力する電気信号から前記検出対象に関する信号の抽出と分析を行う信号処理手段とを備えたことを特徴とするレーザ超音波検査装置。
F-Term (6):
2G047AA05
, 2G047BC08
, 2G047CA04
, 2G047EA10
, 2G047EA12
, 2G047GD01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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レーザ超音波検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-137756
Applicant:株式会社東芝
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表面検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-351440
Applicant:株式会社東芝, 東芝エンジニアリング株式会社
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特公平5-021501
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特許第2659429号
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超音波検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-115172
Applicant:新日本製鐵株式会社
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超音波検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-115171
Applicant:新日本製鐵株式会社
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レーザ超音波探傷装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-083859
Applicant:関西電力株式会社, 北海道電力株式会社, 四国電力株式会社, 九州電力株式会社, 日本原子力発電株式会社, 三菱重工業株式会社
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レーザー超音波検査装置及びレーザー超音波検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-073966
Applicant:新日本製鐵株式会社
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レーザ光による超音波検出方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-237535
Applicant:住友金属工業株式会社
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Article cited by the Patent:
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