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J-GLOBAL ID：200903067571242152

X線透視による3次元観測方法およびX線透視装置

Inventor：
政木 俊道

About 政木 俊道


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008013296
Publication number (International publication number)：2009174972
Application date： Jan. 24, 2008
Publication date： Aug. 06, 2009
Summary：
【課題】X線CT装置を用いることなく、X線透視を行うことにより、アルミダイキャスト部品のボイド等の欠陥をはじめとして、透視対象物内部の特異部位の3次元位置情報を正確に知ることができ、加えて3次元の概略形状を知ることのできるX線透視を用いた3次元観測方法と、その方法を用いたX線透視装置を提供する。【解決手段】X線源1とX線検出器2の対と透視対象物Wとの相対位置を変化させ張ることにより、透視方向を少なくとも3方向に相違させた透視対象物Wの透視像を取得し、その各透視像上で特異部位の像を抽出し、各透視方向の透視像上で抽出された特異部位の像対応付けした後、各透視方向の透視像上の特異部位の像と、これらの各透視像を得たときのX線源1とX線検出器2の透視対象物Wに対する相対的な3次元位置情報を用いて、特異部位の3次元位置および/または3次元形状を算出し、表示する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
X線源とX線検出器の間に透視対象物を配置し、その透視対象物に対するX線源とX線検出器の相対位置を変化させることにより、透視方向を少なくとも3方向に相違させた透視対象物のX線透視像を取得し、その各X線透視像上で、あらかじめ設定されている特異部位の像を抽出するとともに、各透視方向のX線透視像上で抽出された特異部位の像を対応付けした後、各透視方向のX線透視像上の特異部位の像と、これらの各X線透視像を得たときのX線源とX線検出器の透視対象物に対する相対的な3次元位置情報とを用い、特異部位の3次元位置および/または3次元形状を算出することを特徴とするX線透視による3次元観測方法。
IPC (2)：
G01N 23/04 ,  G01B 15/04
FI (2)：
G01N23/04 ,  G01B15/04 H
F-Term (46)：
2F067AA04 ,  2F067AA53 ,  2F067AA67 ,  2F067BB21 ,  2F067CC00 ,  2F067DD06 ,  2F067EE10 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL00 ,  2F067NN03 ,  2F067NN04 ,  2F067NN05 ,  2F067NN09 ,  2F067PP03 ,  2F067PP12 ,  2F067RR12 ,  2F067RR24 ,  2F067RR31 ,  2F067RR35 ,  2F067SS02 ,  2F067SS13 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001FA01 ,  2G001FA02 ,  2G001FA06 ,  2G001FA18 ,  2G001GA04 ,  2G001GA08 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA07 ,  2G001JA13 ,  2G001JA16 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001LA02 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001QA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (6)
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