光画像計測装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三澤正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005380458
Publication number (International publication number)：2007178409
Application date： Dec. 28, 2005
Publication date： Jul. 12, 2007
Summary：

【課題】温度変化や振動等の環境に強い光画像計測装置を提供する。【解決手段】光カプラ4は、直線偏光の低コヒーレンス光L0を、それと同じ偏光軸方向を有する直線偏光の信号光LSと参照光LRとに分割する。信号光LSは、PMファイバ6により偏光軸方向を保持しつつ被検眼Eに導光され、眼底Erを経由後、このPMファイバ6を通じて光カプラ4に戻ってくる。参照光LRは、PMファイバ5により偏光軸方向を保持しつつ参照ミラー14に導光され、参照ミラー14に反射された後、このPMファイバ5を通じて光カプラ4に戻ってくる。光カプラ4に戻ってきた信号光LSと参照光LRは、互いに重畳されて干渉光LCを生成する。干渉光LCは、スペクトロメータ30により検出され、その検出信号に基づいてコンピュータ40が被検眼Eの画像を形成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

直線偏光の低コヒーレンス光を出力する光出力手段と、該出力された低コヒーレンス光を、該低コヒーレンス光と同じ偏光軸方向をそれぞれ有する直線偏光の信号光と参照光とに分割する分割手段と、該分割により得られた直線偏光の信号光を偏光軸方向を保持しつつ被測定物体に向けて導光するとともに、前記被測定物体を経由した前記信号光を偏光軸方向を保持しつつ導光する第1の導光手段と、前記分割により得られた直線偏光の参照光を偏光軸方向を保持しつつ参照物体に向けて導光するとともに、前記参照物体を経由した前記参照光を偏光軸方向を保持しつつ導光する第2の導光手段と、前記第1の導光手段により導光された前記被測定物体を経由した前記信号光と、前記第2の導光手段により導光された前記参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳手段と、該生成された干渉光を受光して検出信号を出力する検出手段と、該出力された検出信号に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、を備える、ことを特徴とする光画像計測装置。

IPC (4)：

G01N 21/17 , G01B 11/24 , G01B 9/02 , A61B 3/12

FI (4)：

G01N21/17 620 , G01B11/24 D , G01B9/02 , A61B3/12 E

F-Term (77)：

2F064AA01 , 2F064AA09 , 2F064CC01 , 2F064DD01 , 2F064EE01 , 2F064FF02 , 2F064FF03 , 2F064FF07 , 2F064GG03 , 2F064GG04 , 2F064GG12 , 2F064GG24 , 2F064GG33 , 2F064GG34 , 2F064GG38 , 2F064GG41 , 2F064GG44 , 2F064GG49 , 2F064GG51 , 2F064GG69 , 2F064HH08 , 2F064JJ01 , 2F065AA52 , 2F065AA53 , 2F065BB22 , 2F065CC16 , 2F065DD04 , 2F065DD11 , 2F065FF04 , 2F065FF51 , 2F065GG01 , 2F065GG24 , 2F065HH09 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL02 , 2F065LL04 , 2F065LL12 , 2F065LL20 , 2F065LL24 , 2F065LL33 , 2F065LL34 , 2F065LL36 , 2F065LL42 , 2F065LL55 , 2F065LL62 , 2F065LL67 , 2F065MM16 , 2F065MM26 , 2F065MM28 , 2F065QQ24 , 2F065QQ31 , 2F065SS13 , 2F065UU07 , 2G059AA06 , 2G059BB12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059EE11 , 2G059FF02 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG06 , 2G059HH01 , 2G059JJ02 , 2G059JJ05 , 2G059JJ11 , 2G059JJ15 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059LL01 , 2G059MM10 , 2G059PP04 , 2G059PP06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

スペクトル干渉に基づく光学・トモグラフィ-および光学表面プロファイル測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-082817 Applicant：カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
独国特許出願公開第DE4309056A1号明細書
格子ベース位相制御光学遅延線
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-549557 Applicant：マサチューセッツインスティチュートオブテクノロジー

Cited by examiner (8)

光学測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-073916 Applicant：興和株式会社
眼底カメラ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-134989 Applicant：株式会社トプコン
特開平2-287421

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