Pat
J-GLOBAL ID:200903067808757950
プリント板の検査方法とその装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小川 勝男 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000152760
Publication number (International publication number):2001330641
Application date: May. 19, 2000
Publication date: Nov. 30, 2001
Summary:
【要約】【課題】プリント板の通電試験後、特定した不良箇所を短時間で正確に自動検査する。【解決手段】実装回路データに基づいて、プリント板の全テスト端子間に対し、テスト位置、プローブピン接触位置、電気的特性値の判定値などを含む検査領域設定情報10を設定し、通電試験で得た不良部品検出情報を取りこんで、不良個所テスト位置データを抽出する。該データに従った検査後、検査結果を出力する。本発明により特定した不良箇所まで自動かつ短時間で検査でき、効率の良いプリント板の電気特性試験を行うことが可能となる。
Claim (excerpt):
複数の部品が配置されたプリント板の検査方法であって、通電試験によって検出されたTP間の電気的不良箇所情報を、予め格納されている部品の固有情報及び部品間の配線接続情報と対応づけて、前記TP間の不良箇所テスト位置データを設定し、該データに従って検査することを特徴とするプリント板の検査方法。
IPC (4):
G01R 31/02
, G01R 1/06
, G01R 31/28
, H05K 13/08
FI (4):
G01R 31/02
, G01R 1/06 E
, H05K 13/08 D
, G01R 31/28 K
F-Term (16):
2G011AA02
, 2G011AC06
, 2G011AE01
, 2G011AF06
, 2G014AA02
, 2G014AA25
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G014AC10
, 2G014AC14
, 2G014AC15
, 2G032AA00
, 2G032AD08
, 2G032AE09
, 2G032AE12
, 2G032AF01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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電気試験装置及び故障救済方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-246243
Applicant:富士通株式会社
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プリント基板の検査方法および検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-086288
Applicant:株式会社アイシーティ
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特開平4-095783
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