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J-GLOBAL ID:200903069304375723
結晶性SiC膜の製造方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 田崎 豪治
, 西山 雅也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004369581
Publication number (International publication number):2006176811
Application date: Dec. 21, 2004
Publication date: Jul. 06, 2006
Summary:
【課題】 500°C程度以下の低温基板温度で低抵抗率を有する結晶性SiC膜を効率的に作製しうる方法を提供する。【解決手段】 基板上に結晶性SiC膜を堆積させるに際して、基板温度を500°C以下、好ましくは300°C以下、として、好適にはシラザン類を用いて窒素をドーピングする。堆積は好適にはCVD法、そしてさらに好適には触媒CVD法による。シラザン類としては、ヘキサメチルジシラザン、ヘキサエチルジシラザン、ヘプタメチルジシラザン、もしくはジビニルテトラメチルジシラザンが挙げられる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
基板上に結晶性SiC膜を堆積させるに際して、基板温度を500°C以下として、窒素をドーピングすることを特徴とする結晶性SiC膜の製造方法。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (17):
4K030AA06
, 4K030AA13
, 4K030AA17
, 4K030AA20
, 4K030BA37
, 4K030CA06
, 4K030CA17
, 4K030FA01
, 4K030FA07
, 4K030FA17
, 4K030JA10
, 4K030LA12
, 5F058BC20
, 5F058BF01
, 5F058BF07
, 5F058BF27
, 5F058BF30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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ドーパント前駆体を用いた製造方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2002-565340
Applicant:エーエスエムアメリカインコーポレイテッド
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シリコンカーバイド膜を形成する方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-031571
Applicant:日本エー・エス・エム株式会社
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プラズマ処理装置及び構造体の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-336572
Applicant:キヤノン株式会社
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