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J-GLOBAL ID：200903070690190838

光周波数の測定方法および装置

Inventor： 彭 錦龍 ,  劉 子安 ,  徐 仁輝
Applicant, Patent owner： 財団法人工業技術研究院
Agent (1)： 小原 英一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007289709
Publication number (International publication number)：2009098106
Application date： Nov. 07, 2007
Publication date： May. 07, 2009
Summary：

【課題】反復率をスキャニングしなくてもモードロックレーザが異なる反復率で光周波数を測定するときの光コム序数差値を測定でき、それによって光コム序数および被測定レーザ周波数の測定を行うことができる光周波数の測定方法および装置を提供する。【解決手段】一台または二台の周波数安定化されたモードロックレーザコムを異なる反復率で操作して被測定レーザとビート周波数をそれぞれ生成する。反復率が異なるときに生成される二つのビート周波数の光コム序数差値を測定することによってビート周波数を生成する光コム序数を計算して取得し、被測定レーザの周波数を測定する。光コム序数差値の測定は分光装置が概略光コム序数を提供するか、或いはモードロックレーザを三種類の異なる反復率で操作するときの測定によって取得される。【選択図】 図9

Claim (excerpt)：

被測定レーザの周波数の測定に使用され、 少なくとも一台の周波数安定化されたモードロックレーザを異なる第1および第2の反復率で操作して被測定レーザと第1および第2のビート周波数をそれぞれ生成させるステップと、 前記モードロックレーザ光コムの反復率、オフセット周波数、前記二つのビート周波数および前記第1のビート周波数と第2のビート周波数を生成する光コム序数差値から前記二台のモードロックレーザ光コムが前記二つのビート周波数を生成する光コム序数を計算するステップと、 前記反復率、前記オフセット周波数、前記ビート周波数および前記光コム序数から前記被測定レーザの周波数を算出するステップと、を含むことを特徴とする光周波数の測定方法。

IPC (1)：

G01J 9/02

FI (1)：

G01J9/02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

• 台湾専利第95139292
  
• 多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置及び測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-136429   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, アイシン精機株式会社
• 光周波数測定装置および光基準周波数発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-113946   Applicant：日本電信電話株式会社
• 光スペクトラム測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-261427   Applicant：アンリツ株式会社
• 光周波数測定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-370491   Applicant：科学技術振興事業団
• 光周波数測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-066428   Applicant：インダストリアルテクノロジーリサーチインスティテュート

Cited by examiner (4)

• 光スペクトラム測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-261427   Applicant：アンリツ株式会社
• 光周波数測定装置および光基準周波数発生装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-113946   Applicant：日本電信電話株式会社
• 光周波数測定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-370491   Applicant：科学技術振興事業団
• 光周波数測定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-066428   Applicant：インダストリアルテクノロジーリサーチインスティテュート

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• “Determination of absolute mode number using two mode-locked laser combs in optical frequency metro
• “Semi-automatic, Octave-spanning Optical Frequency Counter”
• “A new method to determine the absolute mode number of a mode-locked femtosecond-laser comb used fo

Cited by examiner (5)

• “Determination of absolute mode number using two mode-locked laser combs in optical frequency metro
• “Determination of absolute mode number using two mode-locked laser combs in optical frequency metro
• “Semi-automatic, Octave-spanning Optical Frequency Counter”
• “Semi-automatic, Octave-spanning Optical Frequency Counter”
• “A new method to determine the absolute mode number of a mode-locked femtosecond-laser comb used fo