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J-GLOBAL ID:200903071599919252

半導体装置、テラヘルツ波発生装置、及びそれらの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003178562
Publication number (International publication number):2005019472
Application date: Jun. 23, 2003
Publication date: Jan. 20, 2005
Summary:
【課題】低コストで簡便、小型なテラヘルツ波光源を実現可能な半導体装置、テラヘルツ波発生装置、及びそれらの製造方法を提供する。【解決手段】テラヘルツ領域でほとんど吸収がないSi基板30を用い、このSi基板30上に、AlSbバッファ層31を形成し、さらにバッファ層31上に、テラヘルツ波の発生に用いられる半導体結晶層としてInAs層32をエピタキシャル成長する。そして、InAs層32の面3aをパルス励起光L1の入射面とし、Si基板30の面3bをパルス励起光L1によってInAs層32内で発生したテラヘルツ波L2の出射面とする透過型の構成とする。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
Si基板と、 前記Si基板上に形成されたAlSbからなるバッファ層と、 前記バッファ層上にエピタキシャル成長されたInAs、InSb、またはその混晶からなる化合物半導体層と を備えることを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
H01S1/02 ,  H01L21/20 ,  H01L21/203
FI (3):
H01S1/02 ,  H01L21/20 ,  H01L21/203 M
F-Term (10):
5F052JA10 ,  5F052KA01 ,  5F052KA05 ,  5F103AA04 ,  5F103DD01 ,  5F103GG01 ,  5F103HH03 ,  5F103LL20 ,  5F103RR05 ,  5F103RR08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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