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J-GLOBAL ID：200903072010706315

付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法

Inventor： 勝田 稔三 ,  五反田 龍宏
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 岡山大学
Agent (1)： 松尾 憲一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007173597
Publication number (International publication number)：2008194441
Application date： Jun. 30, 2007
Publication date： Aug. 28, 2008
Summary：

【課題】より短時間で半価層を計測可能とする付加フィルタ及びこの付加フィルタを用いた半価層測定装置並びに半価層測定方法を提供する。【解決手段】X線源から照射されたX線の線量を検出する線量検出手段のX線源側に配置する半価層測定用の付加フィルタに、X線の透過方向を厚み方向として、厚み寸法をそれぞれ異ならせた複数の領域を備えたゲージ部を設ける。この付加フィルタを線量検出手段のX線源側に配置するステップと、線量検出手段にX線を照射して線量を検出し、線量が所定の減衰率となる半価層測定用の付加フィルタの厚みを半価層の厚さとするステップとによりX線の半価層の厚さを測定する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

X線源から照射されたX線の線量を検出する線量検出手段の前記X線源側に配置する半価層測定用の付加フィルタであって、 前記X線の透過方向を厚み方向として、厚み寸法をそれぞれ異ならせた複数の領域を備えたゲージ部を有する付加フィルタ。

IPC (3)：

A61B 6/00 ,  G21K 3/00 ,  G01T 1/36

FI (4)：

A61B6/00 300Z ,  A61B6/00 390A ,  G21K3/00 W ,  G01T1/36 D

F-Term (11)：

2G088BB09 ,  2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088GG30 ,  4C093AA01 ,  4C093CA34 ,  4C093EA02 ,  4C093EA11 ,  4C093EA20 ,  4C093EB28 ,  4C093GA05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 放射線装置の較正方法及び放射線装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2002-558896   Applicant：ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー