光画像計測装置及び光画像計測方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：三澤正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007065822
Publication number (International publication number)：2007212467
Application date： Mar. 14, 2007
Publication date： Aug. 23, 2007
Summary：

【課題】干渉光の検出感度を向上させて、良好な精度の信号強度や位相情報を用いて被測定物体を計測できる光画像計測装置を提供する。【解決手段】光画像計測装置1は、光ビームを分割して信号光Sと参照光Rを生成する。波長板7は参照光Rの偏光特性を変換する。参照鏡9は参照光Rを反射する。参照鏡9は、参照光Rの光路方向に移動可能とされている。ハーフミラー6は、被測定物体Oを経由した信号光Sと参照鏡9を経由した参照光R(偏光特性が変換されている)とを重畳させて干渉光Lを生成する。偏光ビームスプリッタ11は、干渉光LをS偏光成分L1とP偏光成分L2に分ける。CCD21はS偏光成分L1を検出し、CCD22はP偏光成分L2を検出する。信号処理部20は、これらの検出結果に基づいて被測定物体Oの画像を形成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

光ビームを分割して信号光と参照光とを生成し、被測定物体を経由した前記信号光と参照物体を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出して前記被測定物体の画像を形成する光画像計測装置であって、前記生成された信号光又は参照光の偏光特性を変換する変換手段と、前記変換された偏光特性を有する前記信号光及び前記参照光の一方と、他方とを重畳して得られる干渉光の各偏光成分を抽出する抽出手段と、前記抽出された各偏光成分を検出する検出手段と、を備え、前記検出された各偏光成分に基づいて前記被測定物体の画像を形成する、ことを特徴とする光画像計測装置。

IPC (5)：

G01N 21/17 , A61B 3/10 , A61B 3/12 , G01B 11/24 , G01B 9/02

FI (6)：

G01N21/17 630 , A61B3/10 Z , A61B3/12 E , A61B3/10 R , G01B11/24 D , G01B9/02

F-Term (68)：

2F064AA09 , 2F064CC04 , 2F064EE02 , 2F064EE04 , 2F064FF03 , 2F064FF07 , 2F064GG12 , 2F064GG22 , 2F064GG23 , 2F064GG32 , 2F064GG37 , 2F064GG38 , 2F064GG44 , 2F064GG55 , 2F064GG61 , 2F064GG68 , 2F064GG70 , 2F064HH01 , 2F064HH03 , 2F064HH05 , 2F064HH08 , 2F064JJ01 , 2F065AA49 , 2F065AA52 , 2F065BB05 , 2F065CC16 , 2F065FF52 , 2F065GG07 , 2F065GG08 , 2F065GG24 , 2F065HH03 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ09 , 2F065JJ26 , 2F065LL00 , 2F065LL04 , 2F065LL13 , 2F065LL33 , 2F065LL35 , 2F065LL37 , 2F065LL46 , 2F065LL57 , 2F065NN05 , 2F065QQ03 , 2F065QQ23 , 2F065QQ25 , 2F065RR07 , 2F065SS13 , 2F065UU05 , 2G059AA05 , 2G059BB12 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE11 , 2G059FF01 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG08 , 2G059GG09 , 2G059JJ01 , 2G059JJ12 , 2G059JJ13 , 2G059JJ19 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059LL02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-153919 Applicant：科学技術振興事業団

Cited by examiner (5)

時間ゲート光波断層画像測定方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-060248 Applicant：株式会社クリニカル・サプライ, 佐藤学
2次元光ヘテロダイン検出法を用いた光画像計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-153919 Applicant：科学技術振興事業団
光計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-239883 Applicant：科学技術振興事業団

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