Pat
J-GLOBAL ID：200903073314966026

溶存オゾン濃度測定装置

Inventor：
三又 章史

About 三又 章史

, 
横田 博

About 横田 博


Applicant, Patent owner：
倉敷紡績株式会社

About 倉敷紡績株式会社


Agent (1)： 青山 葆 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000337362
Publication number (International publication number)：2002139429
Application date： Nov. 06, 2000
Publication date： May. 17, 2002
Summary：
【要約】【課題】 試料液中のオゾン濃度及び妨害成分濃度を迅速かつ正確に測定することができる簡素な構造の溶存オゾン濃度測定装置を提供する。【解決手段】 データ演算処理部S2の基準スペクトル記憶部は、基準オゾンスペクトルω(λ)と基準有機物スペクトルδ(λ)とを記憶している。濃度演算部は、紫外線スペクトル測定部S1によって測定された試料液の紫外線スペクトルμ(λ)と、[p・ω(λ)+q・δ(λ)]とが最もよく近似する数値p、qを演算し、p・Coを該試料液のオゾン濃度とし、q・Cdを該試料液の有機物濃度とする。基準スペクトル更新部は、適宜、ブランク試料液の紫外線スペクトルν(λ)と、q’・δ(λ)とが最もよく近似する数値q’を演算し、ν(λ)/q’でもって紫外線スペクトルδ(λ)を更新してブランク校正を行う。
Claim (excerpt)：
オゾンと、オゾンの濃度測定を妨害する妨害成分とが溶解している試料液中のオゾン濃度及び妨害成分濃度を測定する溶存オゾン濃度測定装置であって、任意の試料について、紫外線吸光度と紫外線の波長λとの関係を示す紫外線スペクトルを測定することができる光学分析手段と、オゾン濃度が一定値Coでありかつ妨害成分を含まない基準試料液の紫外線スペクトルω(λ)と、妨害成分濃度が一定値Cdでありかつオゾンを含まない基準試料液の紫外線スペクトルδ(λ)とを記録している基準スペクトル記録手段と、上記光学分析手段によって測定された任意の試料液の紫外線スペクトルμ(λ)と、(p・ω(λ)+q・δ(λ))とが最もよく近似する数値p、qを演算した上で、p・Coを上記試料液のオゾン濃度とし、q・Cdを上記試料液の妨害成分濃度とする濃度演算手段とが設けられていることを特徴とする溶存オゾン濃度測定装置。
IPC (2)：
G01N 21/33 ,  G01N 33/18
FI (2)：
G01N 21/33 ,  G01N 33/18 D
F-Term (20)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB05 ,  2G059CC08 ,  2G059CC12 ,  2G059DD05 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF07 ,  2G059FF08 ,  2G059GG00 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK01 ,  2G059LL04 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM